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Davies-HW,Kennedy-SM,Teschke-K,Quintana-PJE unknown 1998 Mutation research Genetic toxicology and environm Vol.416 No.1-2
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Teschke, Omar American Institute of Physics 1994 Applied Physics Letters Vol.64 No.15
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Teschke, O.,Goncalves, M. C.,Davanzo, C. U. American Institute of Physics 1994 Applied Physics Letters Vol.64 No.26
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Teschke, Omar American Institute of Physics 1996 Applied Physics Letters Vol.68 No.15
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Teschke, O.,Soares, D. M.,Nunes, L. A. O. American Institute of Physics 1997 Applied Physics Letters Vol.70 No.21
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Teschke, O.,Alvarez, F.,Tessler, L. American Institute of Physics 1993 Applied Physics Letters Vol.63 No.14
Etching Technique for Transmission Electron Microscopy Observation of Nanostructure of Visible Liminescent Porous Silicon
Teschke, O.,Goncalves, M.C.,Galembeck, F. American Institute of Physics 1993 Applied Physics Letters Vol.63 No.10
Atomic scale patterns formed during surface scanning by atomic force microscopy tips (3 pages)
Teschke, O., Soares, D. M., Filho, J. F. V., de So AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2006 Applied Physics Letters Vol.89 No.25
Electrostatic response of hydrophobic surface measured by atomic force microscopy
Teschke, O., de Souza, E. F. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2003 Applied Physics Letters Vol.82 No.7
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