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Sutt, A. SOUTHERN ILLINOIS UNIVERSITY 2003 Atlantic economic journal Vol.31 No.4
3DV.2.40 Microstructure Determination of μc-Si:H Analysing the Breadths of Diffraction and Spectral Lines of XRD, Raman and FTIR Spectroscopies Using the Voigt Function
Sutta, P., Netrvalova, M., Mullerova, J., Prusakov Munich; WIP-Renewable Energies 2012 EUROPEAN PHOTOVOLTAIC SOLAR ENERGY CONFERENCE Vol.27 No.-
3DV.4.39 Synergy Effect of XRD, Raman, FTIR, UVVIS and Tem Analyses in μc-Si:H and nc-Si Microstructure Determination
Sutta, P., Müllerová, J., Calta, P., Agbo, S. Curran Associates. 2014 EUROPEAN PHOTOVOLTAIC SOLAR ENERGY CONFERENCE Vol.2014 No.29
X-Ray Diffraction Line Profile Analysis of ZnO Thin Films Deposited on Al-SiO~2-Si Substrates
Sutta, P. KLUWER ACADEMIC PUBLISHERS 1995 NATO ASI SERIES E APPLIED SCIENCES Vol.284 No.-
X-ray Diffraction Analysis and Optical Properties of Piezoelectric ZnO Thin Films Prepared by Cyclic Sputtering and Etching Technique
Sutta, P., Jackuliak, Q., Novotny, I., Tvarozek, V unknown 1996 ASDAM -INTERNATIONAL CONFERENCE- Vol.10 No.-
Lattice Stress Gradient Formation in Oxide Films Deposited on Substrates when Used Sputtering Techniques
Sutta, P. IEEE 2003 SEMICONDUCTING AND INSULATING MATERIALS -PROCEEDIN Vol.12 No.-
Sutta, P., Jackuliak, Q., Tvarozec, V., Novotny, I Kluwer 1994 NATO ASI SERIES E APPLIED SCIENCES Vol.284 No.-
Determination of structure characteristics of heteroepitaxially grown thin films through X-ray diffraction line profile analysis
Sutta, P. Kluwer Academic Publishers 1997 NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY Vol.48 No.-
Lattice stress gradients in thin films deposited by reactive sputtering
Sutta, P. IEEE 2000 ASDAM -INTERNATIONAL CONFERENCE- Vol.3 No.-
Macrostress formation in thin films and its investigation by X-ray diffraction
Sutta, P., Jackuliak, Q. unknown 1998 ASDAM -INTERNATIONAL CONFERENCE- Vol.2 No.-
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