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Polarimetric characterization of optically anisotropic flexible substrates
Stchakovsky, M., Caillaud, C., Foldyna, M., Ossiko Elsevier 2008 Thin Solid Films Vol.516 No.7
Polarimetric studies of polyethylene terephtalate flexible substrates
Stchakovsky, M., Garcia-Caurel, E., Warenghem, M. EDP SCIENCES 2008 EPJ APPLIED PHYSICS Vol.44 No.3
INSITU INVESTIGATION OF THE AMORPHOUS-SILICON SILICON-NITRIDE INTERFACES BY SPECTROELLIPSOMETRY
M. Stchakovsky, B. Drevillon, P. R. I. Cabarrocas American Institute of Physics 1991 Journal of Applied Physics Vol.70 No.4
Coherent and incoherent interference modelling and measurement of anisotropic multilayer stacks using conventional ellipsometry
Touir, H., Stchakovsky, M., Ossikovski, R., Wareng Elsevier, 2004 Thin Solid Films Vol.455-456 No.1-2
Touir, H., Stchakovsky, M., Ossikovski, R., Wareng Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 Thin Solid Films Vol.455-456 No.6
Optical constants of electroplated Bi2Te3 films by Mueller matrix spectroscopic ellipsometry
Zimmer, A., Stchakovsky, M., Stein, N., Johann, L. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2008 Thin Solid Films Vol.516 No.10
Coherent Modeling and Measurement of Anisotropic Multilayer Stack using Conventional Ellipsometry Applications
Touir, H., Stchakovsky, M., Ossikovski, R., Wareng unknown 2005 PROCEEDINGS OF THE ANNUAL TECHNICAL CONFERENCE- So Vol.48 No.-
Ellipsometric characterization of photo-resist gratings using artificial neural network
Gereige, I., Robert, S., Stchakovsky, M., Jamon, D John Wiley & Sons, Ltd 2008 Physica Status Solidi C Vol.5 No.5
Aggregation of hydrophobically modified polysaccharides in solution and at the air-water interface
Henni, W., Deyme, M., Stchakovsky, M., LeCerf, D. Elsevier Science B.V., Amsterdam 2005 Journal of Colloid and Interface Science Vol.281 No.2
Enhanced sensitivity to dielectric function and thickness of absorbing thin films by combining total internal reflection ellipsometry with standard ellipsometry and reflectometry
Lizana, A., Foldyna, M., Stchakovsky, M., Georges, IOP PUBLISHING LTD 2013 Journal of Physics. D, Applied Physics Vol.46 No.10
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