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Simoen, E.,Dierickx, B. The Institute 1993 AIP Conference Proceedings Series Vol.285 No.-
Clinical and economic analysis of antimicrobial therapy of chronic obstructive pulmonary disease exacerbations:
Simoens, S., Decramer, M., De Coster, S., Celis, G Blackwell Publishing Ltd 2007 INTERNATIONAL JOURNAL OF CLINICAL PRACTICE -HOVE- Vol.61 No.2
Critical Discussion of the Front-Back Gate Coupling Effect on the Low-Frequency Noise in Fully Depleted SOI MOSFETs
Simoen, E., Mercha, A., Claeys, C., Lukyanchikova, IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2004 IEEE transactions on electron devices Vol.51 No.6
Point-Defect Generation in Ni-, Pd-, and Pt-Germanided Schottky Barriers on n-Type Germanium Substrates
Simoen, E., Opsomer, K., Claeys, C., Maex, K., Det Pennington, N.J.:; The Electrochemical Society, 2006 Meeting Abstracts- Electrochemical Society Vol.2006 No.2
Defect-Related Excess Low-Frequency Noise in Ge-on-Si pMOSFETs
Simoen, E., Mitard, J., De Jaeger, B., Eneman, G. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2011 IEEE electron device letters Vol.32 No.1
What is the value for money of medicines? A registry study
Simoens, S. Blackwell Publishing Ltd 2012 Journal of Clinical Pharmacy and Therapeutics Vol.37 No.2
Psychosocial stress attenuates general sound processing and duration change detection:
Simoens, V. L., Istok, E., Hyttinen, S., Hirvonen, Blackwell Publishing Ltd 2007 Psychophysiology Vol.44 No.1
Diode Analysis of Electrically Active Defects in Recessed SiGe Source/Drain Diodes
Simoen, E., Bargallo, M., Eneman, G., Verheyen, P. Pennington, N.J.:; The Electrochemical Society, 2006 Meeting Abstracts- Electrochemical Society Vol.2006 No.2
Vernieuwing van de opleiding tot dierenarts aan de Universiteit Gent
Simoens, P., Deprez, P., De Kruif, A. VLAAMS DIERGENEESKUNDIG TIJDSCHRIFT 2007 Vlaams Diergeneeskundig Tijdschrift Vol.76 No.1
Low-Frequency Noise Behavior of SiO~2-HfO~2 Dual-Layer Gate Dielectric nMOSFETs With Different Interfacial Oxide Thickness
Simoen, E., Mercha, A., Pantisano, L., Claeys, C. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2004 IEEE transactions on electron devices Vol.51 No.5
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