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Electroreflectance and Photoreflectance Studies of Electric Fields in Pt/GaN Schottky Diodes and AlGaN
Shokhovets, S., Goldhahn, R., Gobsch, G., Ambacher Warrendale, Pa.; Materials Research Society; 1999 2003 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.743 No.14
Temperature-dependent electric fields in GaN Schottky diodes studied by electroreflectance
Shokhovets, S.,Fuhrmann, D.,Goldhahn, R.,Gobsch, G Elsevier 2004 Thin Solid Films Vol.450 No.1
Birefringence and refractive indices of wurtzite GaN in the transparency range (5 pages)
Shokhovets, S., Himmerlich, M., Kirste, L., Lea AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2015 Applied Physics Letters Vol.107 No.9
Determination of the anisotropic dielectric function for wurtzite AlN and GaN by spectroscopic ellipsometry
Shokhovets, S., Goldhahn, R., Gobsch, G., Piekh, S AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2003 Journal of Applied Physics Vol.94 No.1
Spectroscopic ellipsometry of wurtzite ZnO and GaN: Examination of a special case (10 pages)
Shokhovets, S., Spiess, L., Gobsch, G. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2010 Journal of Applied Physics Vol.107 No.2
Analysis of Reflectivity Measurements for GaN Films Grown on GaAs: Influence of Surface Roughness and Interface Layers
Shokhovets, S., Goldhahn, R., Cimalla, V., Cheng, Trans tech publications 1997 Materials Science Forum Vol.264-268 No.2
Study of Exciton Dead Layers in GaN Schottky Diodes with N and Ga-Face Polarity
Shokhovets, S., Fuhrmann, D., Goldhahn, R., Gobsch ACADEMIC VERLAG GMBH 2002 Physica Status Solidi. A Vol.194 No.2
"Anomalous" pseudodielectric function of GaN: Experiment, modelling and application to the study of surface properties
Shokhovets, S., Gobsch, G., Lebedev, V., Ambacher, Elsevier 2006 Applied Surface Science Vol.253 No.1
Optical characterisation of interface properties for hexagonal GaN grown by MBE on GaAs
Shokhovets, S. Goldhahn, R. Gobsch, G. Cheng, T. S Elsevier 1998 Materials Science and Engineering B Vol.59 No.1-3
Study of the linear electro-optic effect in alpha-GaN by electroreflectance
Shokhovets, S.,Goldhahn, R.,Gobsch, G. Elsevier 2002 Materials Science and Engineering B Vol.93 No.1-3
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