RISS 처음 방문이세요?
학술연구정보서비스 검색
MyRISS
회원서비스
설정
About RISS
RISS 처음 방문 이세요?
고객센터
RISS 활용도 분석
최신/인기 학술자료
해외자료신청(E-DDS)
RISS API 센터
해외전자정보서비스 검색
Databases & Journals
해외전자자료 이용안내
해외전자자료 통계
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
최근 검색 목록
통합검색 DB 원하는 DB만 선택하여 검색하실 수 있습니다.
A~C
D~L
M~W
- 해외DB품목별 바로가기 버튼()을 통하여 직접 접속 하시면, 접근 권한이 있는 이용자에 한해 DB별 검색 가능
- JCR, PML, ProQuest Central 품목은 체크박스에 개별 선택을 통한 제한 검색 불가
※ 구독기관 소속 이용자에 한하여 품목명 오른편의 바로가기 버튼() 으로 직접 접속이 가능하며, JCR은 통합검색 후 출력되는 화면 내에서도 이용 가능
개별검색 DB통합검색이 안되는 DB는 DB아이콘을 클릭하여 이용하실 수 있습니다.
전분야 전자저널
전분야 신문기사
교육분야
전분야
영어사전
법학분야
통계정보 및 조사/분석시스템
해외석박사학위논문 목록
해외석박사학위논문 원문
예술 / 패션
법률/뉴스정보(미국, 영연방)
법률/뉴스정보(일본)
법률/뉴스정보(중국)
법률/뉴스정보(프랑스)
<해외전자자료 이용권한 안내>
- 이용 대상 : RISS의 모든 해외전자자료는 교수, 강사, 대학(원)생, 연구원, 대학직원에 한하여(로그인 필수) 이용 가능
- 구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색 및 등록된 대학IP 대역 내에서 24시간 무료 이용
- 미구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색을 통한 오후 4시~익일 오전 9시 무료 이용
※ 단, EBSCO ASC/BSC(오후 5시~익일 오전 9시 무료 이용)
RISS 인기검색어
검색결과 좁혀 보기
좁혀본 항목 보기순서
오늘 본 자료
Evaluation of thin Ta(N) film integrity deposited on porous glasses
Shamiryan, D., Baklanov, M. R., Yanovitskaya, Z. S SPIE - THE INT SOC FOR OPTICAL ENGINEERING 2002 Optica Applicata Vol.33 No.1
Plasma etching: From micro- to nanoelectronics
Shamiryan, D., Paraschiv, V., Boullart, W., Baklan Springer Science + Business Media 2009 High Energy Chemistry Vol.43 No.3
Diffusion of solvents in thin porous films
Shamiryan, D., Baklanov, M. R., Lyons, P., Beckx, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2007 Colloids and Surfaces A Vol.300 No.1-2
Dry etching process for bulk finFET manufacturing
Shamiryan, D., Redolfi, A., Boullart, W. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2009 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.86 No.1
Dry Etch of Source/drain Areas for Strained Channel Engineering by SiGe Regrowth
Shamiryan, D., Verheyen, P., Rooyackers, R., Deman Mentor Communications 2006 PROCEEDINGS OF INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DRY PROC Vol.2006 No.-
BCl~3/N~2 Plasma for Advanced Non-Si Gate Patterning
Shamiryan, D., Paraschiv, V., Eslava-Fernandez, S. Warrendale, Pa.; Materials Research Society; 1999 2006 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.913 No.-
SELECTIVE REMOVAL OF HIGH-K GATE DIELECTRICS
Shamiryan, D., Baklanov, M., Claes, M., Boullart, Taylor & Francis 2009 Chemical engineering communications Vol.196 No.12
Influence of Ta(N) Metal Gate Microstructure on Its Etch Properties
Shamiryan, D., Paraschiv, V., Tokei, Z., Boullart, Pennigton, N.J.:; Electrochemical Society, 2005 Meeting Abstracts- Electrochemical Society Vol.- No.2
In-line control of Si loss after post ion implantation strip
Shamiryan, D., Radisic, D., Boullart, W. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.87 No.9
Silicon Surface Cleaning after Spacer Dry Etching
Shamiryan, D. Scitec Publications; 1999 2001 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.76-77 No.-
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료