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Sündal, Doğuhan John Wiley & Sons, Ltd 2023 Metroeconomica Vol.74 No.4
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Mendieta‐Muñoz, Ivan, Sündal, Doğuhan John Wiley & Sons, Ltd 2022 Metroeconomica Vol.73 No.2
On the interface states and series resistance profiles of (Ni/Au)-Al0.22Ga0.78N
Demirezen, S., Altı,ndal, S., Ozcelik, S., Oz Taylor & Francis 2010 RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS Vol.165 No.12
Analysis of temperature dependent electrical characteristics of Au/n-GaAs
Bengi, A., Alt&imath,ndal, S., Ozcelik, S., Agaliy Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2008 Vacuum Vol.83 No.2
The effect of insulator layer thickness on the main electrical parameters in (Ni/Au)
Altı,ndal, S., Safak, Y., Tascı,oglu, I., John Wiley & Sons, Ltd 2010 Surface and interface analysis Vol.42 No.6-7
Trapping levels in TlGaSe2 single crystals
Ozdemir, S., Alt?ndal, e. n. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2013 JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS Vol.566 No.-
Analysis of surface states and series resistance in Au/n-Si Schottky diodes with insulator layer using current-voltage and admittance-voltage characteristics
Alt&imath,ndal, S., Yucedag, I., Tataroglu, A. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2009 Vacuum Vol.84 No.3
On the temperature dependent profile of interface states and series resistance characteristics in (Ni/Au)
Demirezen, S., Altı,ndal, S. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 Physica. B, Condensed matter Vol.405 No.4
The forward bias current density-voltage-temperature (J-V-T) characteristics of Al-SiO2-pSi (MIS) Schottky diodes
Ozdemir, S., Dokme, I., Altı,ndal, S. Taylor & Francis 2011 International Journal of Electronics Vol.98 No.6
Forward and reverse bias current–voltage (I–V) characteristics in the metal–ferroelectric–semiconductor (Au/SrTiO3
A. Buyukbas-Ulusan , S. Altındal-Yerişkin , A. Tat Springer New York LLC 2018 Journal of materials science Materials in electron Vol.29 No.19
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