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The atomic structure of dislocations and planar boundaries in GaN
Ruterana, P. Philadelphia; Institute of Physics; 1999 1999 CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS Vol.164 No.-
Preface: Indium nitride and related alloys
Ruterana, P. John Wiley & Sons, Ltd 2012 Physica Status Solidi C Vol.9 No.3-4
The Microstructure and Electrical Properties of Directly Deposited TiN Ohmic Contacts to Gallium Nitride
Ruterana, P.,Nouet, G.,Kehagias, T.,Komninou, P.,K Materials Research Society 2000 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.595 No.-
The Atomic Structure of Extended Defects in GaN
Ruterana, P.,Nouet, G. Materials Research Society 2000 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.595 No.-
Formation and Stability of the Prismatic Stacking Fault in Wurtzite (Al,Ga,In) Nitrides
Ruterana, P.,Bere, A.,Nouet, G. Materials Research Society 2000 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.595 No.-
A TEM Study of GaN Grown by ELO on (0001) 6H-SiC
Ruterana, P.,Beaumont, B.,Gibart, P.,Melnik, Y. Materials Research Society 2000 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.595 No.-
New form of ordering in AlGaN
Ruterana, P.,De Saint Jores, G.,Omnes, F. Elsevier 2001 Materials Science and Engineering B Vol.82 No.1-3
Quantitative measurement of In fluctuation inside MOCVD InGaN QWs
Ruterana, P.,Kret, S.,Poisson, M. A. Elsevier 2002 Materials Science and Engineering B Vol.93 No.1-3
Rare earth ion implantation and optical activation in nitride semiconductors for multicolor emission
Ruterana, P., Chauvat, M.-P., Lorenz, K. IOP PUBLISHING LTD 2015 Semiconductor science and technology Vol.30 No.4
Wedge Cleaving for TEM Samples Preparation and Interface Analysis
Ruterana, P., Laub, D. Les Editions de Physique 1994 ELECTRON MICROSCOPY -INTERNATIONAL CONGRESS- Vol.1 No.-
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