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Defect-Oriented Testability for Asynchronous IC's
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CA-BIST for Asynchronous Circuits: A Case Study on the RAPPID Asynchronous Instruction Length Decoder
Roncken, M.,Stevens, K.,Pendurkar, R.,Rotem, S.,Ch IEEE 2000 INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ASYNCNRONOUS CIRCUITS A Vol.6 No.-
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Abbott, Mick, Roncken, Paul Taylor & Francis 2018 Journal of landscape architecture Vol.13 No.1
Low Power and Energy Efficient Asynchronous Design
Beerel, P.A., Roncken, M.E. American Scientific Publishers 2007 JOURNAL OF LOW POER ELECTRONICS Vol.3 No.3
Fsimac: A Fault Simulator for Asynchronous Sequential Circuits
Sur-Kolay, S.,Roncken, M.,Stevens, K.,Chaudhuri, P IEEE 2000 PROCEEDINGS OF THE ASIAN TEST SYMPOSIUM Vol.9 No.-
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