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Structural and Magnetic Study of Fe Stripes and Boxes Patterned by the <<Atomic Saw>> Method
Ressier, L. MATERIALS RESEARCH SOCIETY 1997 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.475 No.-
Strong uniaxial magnetic anisotropy of nanostripes obtained by cutting thin epitaxial Fe layer using the atomic saw method
Ressier, L., Schuhl, A., Nguyen Van Dau, F., Posta American Institute of Physics 1996 Journal of Applied Physics Vol.81 No.8--28
Electrical nano-imprint lithography
Ressier, L., Palleau, E., Behar, S. Institute of Physics; 1999 2012 Nanotechnology Vol.23 No.25
Combining Convective/Capillary Deposition and AFM Oxidation Lithography for Close-Packed Directed Assembly of Colloids
Ressier, L., Viallet, B., Beduer, A., Fabre, D., F ACS AMERICAN CHEMICAL SOCIETY 2008 Langmuir Vol.24 No.23
Manganese speciation in exhaust particulates of automobiles using MMT-containing gasoline
Ressier, T. INTERNATIONAL UNION OF CRYSTALLOGRAPHY 1999 Journal of Synchrotron Radiation Vol.6 No.3
How to Control AFM Nanoxerography for the Templated Monolayered Assembly of 2 nm Colloidal Gold Nanoparticles
Ressier, L., Palleau, E., Garcia, C., Viau, G., Vi IEEE 2009 IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY Vol.8 No.4
Atomic force microscopy study of micrometric pattern replica by hot embossing lithography
Ressier, L., Martin, C., Peyrade, J. P. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.71 No.3-4
Electrostatic nanopatterning of PMMA by AFM charge writing for directed nano-assembly
Ressier, L., Le Nader, V. Institute of Physics; 1999 2008 Nanotechnology Vol.19 No.13
Anisotropy, magnetic domains and magnetization reversal of nanostripes and nanosquares patterned by atomic saw on epitaxial Fe layers
Ressier, L.,Jaffres, H.,Snoeck, E.,Bertrand, D. Trans Tech Publications 1997 Materials Science Forum Vol.269-272 No.2
Fabrication of planar cobalt electrodes separated by a sub-10nm gap using high resolution electron beam lithography with negative PMMA
Ressier, L., Grisolia, J., Martin, C., Peyrade, J. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2007 Ultramicroscopy Vol.107 No.10-11
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