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X-ray irradiation effects in top contact, pentacene based field effect transistors for space related applications (3 pages)
Devine, R. A. B., Ling, M.-M., Mallik, A. B., Robe AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2006 Applied Physics Letters Vol.88 No.15
DEFECTS IN A-SIO2 DEPOSITED FROM A TETRAETHOXYSILANE-OXYGEN PLASMA
R. A. B. Devine, A. Tissier American Institute of Physics 1991 Journal of Applied Physics Vol.69 No.4
Sedimentary Development of Coral Bay, St. John, USVI: a Shift From Natural to Anthropogenic Influences
Brooks, G.R., Devine, B., Larson, R.A., Rood, B.P. UNIVERSITY OF PUERTO RICO 2007 CARIBBEAN JOURNAL OF SCIENCE Vol.43 No.2
Irradiation response of mobile protons in buried SiO/sub 2
Vanheusden, K., Devine, R.A.B., Schwank, J.R., Fle IEEE; 1999 1997 IEEE transactions on nuclear science Vol.44 No.6
Time dependent evolution of the carrier mobility in poly(3-hexylthiophene) based field effect transistors (7 pages)
Devine, R. A. B. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2006 Journal of Applied Physics Vol.100 No.3
Radiation response of nanometric HfSiON/SiO~2 gate stacks (5 pages)
Devine, R.A.B., Quevedo-Lopez, M.A., Alshareef, H. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2008 Journal of Applied Physics Vol.103 No.6
Mobile charge, soft breakdown, and self-healing in hydrogen silsesquioxane based intermetal dielectric
Devine, R. A. B. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2002 Journal of Applied Physics Vol.92 No.6
Electrical bias stressing and radiation induced charge trapping in HfO~2/SiO~2 dielectric stacks (4 pages)
Devine, R. A. B., Busani, T., Quevedo-Lopez, M., A AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2007 Journal of Applied Physics Vol.101 No.10
Slow trap charging and detrapping in the negative bias temperature instability in HfSiON dielectric based field effect transistors (5 pages)
Devine, R.A.B., Alshareef, H.N., Quevedo-Lopez, M. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2008 Journal of Applied Physics Vol.104 No.12
A simplified approach to estimating total trap contributions in negative bias temperature instability (5 pages)
Devine, R.A.B., Mee, J.K., Hjalmarson, H.P., Queve AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2009 Journal of Applied Physics Vol.106 No.2
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