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Dutta, R. K., Petrov, R. H., Delhez, R., Hermans, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2013 Acta materialia Vol.61 No.5
DETERMINATION OF CRYSTALLITE SIZE AND LATTICE-DISTORTIONS THROUGH X-RAY-DIFFRACTION LINE-PROFILE ANALYSIS - RECIPES, METHODS AND COMMENTS
R. Delhez, T. H. Dekeijser, E. J. Mittemeijer J.F. Bergmann 1982 Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie Vol.312 No.1
ELIMINATION OF AN APPROXIMATION IN WARREN-AVERBACH ANALYSIS
R. Delhez, E. J. Mittemeijer Munksgaard International Booksellers and Publishers 1976 Journal of Applied Crystallography Vol.9 No.6
A practical vision on Line Profile Analysis today and in the years to come
Delhez, R., Vermeulen, A.C. Oldenbourg 2009 ZEITSCHRIFT FUR KRISTALLOGRAPHIE -SUPPLEMENT ISSUE Vol.//SUP30 No.-
IMPROVED ALPHA-2 ELIMINATION
R. Delhez, E. J. Mittemeijer Munksgaard International Booksellers and Publishers 1975 Journal of Applied Crystallography Vol.8 No.12
Residence and exposure times : when diffusion does not matter
Delhez, r. J., Deleersnijder, r. Springer Science + Business Media 2012 OCEAN DYNAMICS Vol.62 No.10-12
ANALYSIS OF ERRORS IN FOURIER COEFFICIENTS OF ALPHA-1 LINE-PROFILE
Tandem transmission/reflection mode XRD instrument including XRF for in-situ measurement of Martian rocks and soils [4859-11]
Delhez, R., van der Gaast, S. J., Wielders, A. A. International Society for Optical Engineering; 1999 2003 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.- No.4859
ANALYSIS OF X-RAY-DIFFRACTION LINE-PROFILES FROM SMALL EPITAXIAL BINARY DIFFUSION COUPLES - DETERMINATION OF CONCENTRATION PROFILE AND INFLUENCE OF TDS
R. Delhez, E. J. Mittemeijer American Institute of Physics 1978 Journal of Applied Physics Vol.49 No.9
Compose>s de l'ion cadmium et de l'ion thiosulfate
Delhez, R.,Gabelica, Z. [Socie>te> scientifique de Bruxelles] 1969 Annales de la Société scientifique de Bruxelles Sc Vol.83 No.3
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