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The importance of the orthoptist in the treatment of neurological acquired binocular diplopia
Polychroniadis-Scouros, Sophie, Freeman, Cicely F. Elsevier Science B.V., Amsterdam 2018 Journal of AAPOS Vol.22 No.4
Microstructural Characterization of 3C-SiC Layers, Grown Epitaxially on 4H-SiC Substrates by CVD
Polychroniadis, E. K., Sall, M., Chandran, N. Trans Tech Publications. 2014 Advanced Materials Research Vol.2015 No.1096
Comparative Evaluation of Free-Standing 3C-SiC Crystals
Polychroniadis, E. K., Balloud, C., Juillaguet, S. Transtec Publications; 1999 2005 Materials Science Forum Vol.483-485 No.-
Structural defects near the film/substrate interface of a homo-epitaxial 4H-SiC film grown by the vapour-liquid-solid mechanism
Polychroniadis, E. K. IOP PUBLISHING LTD 2005 Semiconductor science and technology Vol.20 No.6
Structural Characterization of Thin 3C-SiC Films Annealed by the Flash Lamp Process
Polychroniadis, E., Stoemenos, J., Ferro, G., Mont Uetikon-Zuerich, Switzerland; Great Britain; Trans Tech Publications 2004 Materials Science Forum Vol.457-460 No.-
Microstructural characterization of very thick freestanding 3C-SiC wafers
Polychroniadis, E., Syvajarvi, M., Yakimova, R., S Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 Journal of crystal growth Vol.263 No.1-4
The Influence of Planar Compositional Modulation on the Anisotropic Behaviour of TlBiSe~2
Polychroniadis, E. K.,Anagnostopoulos, A. N.,Liout Transtec Publications 1995 Materials Science Forum Vol.207-209 No.2
On the Existence of Periodic Interfaces in the Layered Compound TlBiS~2
Polychroniadis, E. K., Frangis, N., Ozer, M. Trans Tech 1998 Materials Science Forum Vol.294-296 No.-
PVT-Growth and Characterization of Single Crystalline 3C-SiC on a (0001) 6H-SiC Substrate
Polychroniadis, E. K., Mantzari, A., Freudenberg, Transtec Publications; 1999 2005 Materials Science Forum Vol.483-485 No.-
Structural anomalies in epitaxial films of TlBiTe2
E.K. Polychroniadis, G.L. Bleris, J. Stoemenos Elsevier BV * North-Holland 1976 Thin Solid Films Vol.37 No.3
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