RISS 처음 방문이세요?
학술연구정보서비스 검색
MyRISS
회원서비스
설정
About RISS
RISS 처음 방문 이세요?
고객센터
RISS 활용도 분석
최신/인기 학술자료
해외자료신청(E-DDS)
RISS API 센터
해외전자정보서비스 검색
Databases & Journals
해외전자자료 이용안내
해외전자자료 통계
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
최근 검색 목록
통합검색 DB 원하는 DB만 선택하여 검색하실 수 있습니다.
A~C
D~L
M~W
- 해외DB품목별 바로가기 버튼()을 통하여 직접 접속 하시면, 접근 권한이 있는 이용자에 한해 DB별 검색 가능
- JCR, PML, ProQuest Central 품목은 체크박스에 개별 선택을 통한 제한 검색 불가
※ 구독기관 소속 이용자에 한하여 품목명 오른편의 바로가기 버튼() 으로 직접 접속이 가능하며, JCR은 통합검색 후 출력되는 화면 내에서도 이용 가능
개별검색 DB통합검색이 안되는 DB는 DB아이콘을 클릭하여 이용하실 수 있습니다.
전분야 전자저널
전분야 신문기사
교육분야
전분야
영어사전
법학분야
통계정보 및 조사/분석시스템
해외석박사학위논문 목록
해외석박사학위논문 원문
예술 / 패션
법률/뉴스정보(미국, 영연방)
법률/뉴스정보(일본)
법률/뉴스정보(중국)
법률/뉴스정보(프랑스)
<해외전자자료 이용권한 안내>
- 이용 대상 : RISS의 모든 해외전자자료는 교수, 강사, 대학(원)생, 연구원, 대학직원에 한하여(로그인 필수) 이용 가능
- 구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색 및 등록된 대학IP 대역 내에서 24시간 무료 이용
- 미구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색을 통한 오후 4시~익일 오전 9시 무료 이용
※ 단, EBSCO ASC/BSC(오후 5시~익일 오전 9시 무료 이용)
RISS 인기검색어
검색결과 좁혀 보기
좁혀본 항목 보기순서
오늘 본 자료
Synchrotron radiation total reflection X-ray fluorescence and energy dispersive X-ray fluorescence analysis on AP1™ films applied to the analysis of trace elements in metal alloys for the construction of nuclear reactor core components: a comparison
Pepponi, G.,Wobrauschek, P.,Hegedus, F.,Streli, C. Elsevier 2001 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.56 No.11
Analysis of organic contaminants on Si wafers with TXRF-NEXAFS
Pepponi, G.,Beckhoff, B.,Ehmann, T.,Ulm, G.,Streli Elsevier 2003 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.58 No.12
Pepponi, G., Beckhoff, B., Ehmann, T., Ulm, G., St Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.58 No.12
Comparison of synchrotron radiation total reflection X-ray fluorescence excitation-detection geometries for samples with differing matrices
Pepponi, G., Streli, C., Wobrauschek, P., Zamini, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.58 No.12
Grazing incidence x-ray fluorescence and secondary ion mass spectrometry combined approach for the characterization of ultrashallow arsenic distribution in silicon
Pepponi, G., Giubertoni, D., Bersani, M., Meirer, American Vacuum Society; 1999 2010 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.28 No.1
Synchrotron radiation total reflection X-ray fluorescence and energy dispersive X-ray fluorescence analysis on AP1 films applied to the analysis of trace elements in metal alloys for the construction of nuclear reactor core components: a comparison
Pepponi, G., Wobrauschek, P., Hegedus, F., Streli, ELSEVIER 2001 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.56 No.11
Region-specific neuroprotective effect of ZM 241385 towards glutamate uptake inhibition in cultured neurons
Pepponi, R., Ferrante, A., Ferretti, R., Martire, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2009 European Journal of Pharmacology Vol.617 No.1-3
Local Arsenic Structure in Shallow Implants in Si Following SPER: An EXAFS and MEIS Study
Pepponi, G., Giubertoni, D., Gennaro, S., Bersani, Melville, N.Y.; American Institute of Physics 2006 AIP Conference Proceedings Series Vol.- No.866
A mycobacterial growth inhibition assay (MGIA) for bovine TB vaccine development
Pepponi, Ilaria, Khatri, Bhagwati, Tanner, Rachel Elsevier Science B.V., Amsterdam 2017 TUBERCULOSIS -EDINBURGH- Vol.106 No.-
Total reflection X-ray fluorescence analysis of pollen as an indicator for atmospheric pollution
Pepponi, G., Lazzeri, P., Coghe, N., Bersani, M., Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.59 No.8
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료