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Pantzas, Konstantinos, Patriarche, Gilles, Talneau American Institute of Physics 2014 Applied Physics Letters Vol.105 No.14
Investigation of a relaxation mechanism specific to InGaN for improved MOVPE growth of nitride solar cell materials
Pantzas, K., Patriarche, G., Orsal, G., Gautier, S John Wiley & Sons, Ltd 2012 Physica Status Solidi. A Vol.209 No.1
Bonding mechanism of a yttrium iron garnet film on Si without the use of an intermediate layer (4 pages)
Pantzas, K., Patriarche, G., Talneau, A., Youssef, AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2014 Applied Physics Letters Vol.105 No.14
Role of compositional fluctuations and their suppression on the strain and luminescence of InGaN alloys
Pantzas, Konstantinos, Patriarche, Gilles, Troadec American Institute of Physics 2015 Journal of Applied Physics Vol.117 No.5
Role of compositional fluctuations and their suppression on the strain and luminescence of InGaN alloys (10 pages)
Pantzas, K., Patriarche, G., Troadec, D., Kociak, AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2015 Journal of Applied Physics Vol.117 No.5
Evaluation of the surface bonding energy of an InP membrane bonded oxide-free to Si using instrumented nanoindentation (4 pages)
Pantzas, K., Patriarche, G., Le Bourhis, E., Troad AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2013 Applied Physics Letters Vol.103 No.8
Measuring the surface bonding energy: A comparison between the classical double-cantilever beam experiment and its nanoscale analog
Pantzas, K., Fournel, F., Talneau, A., Patriarche, American Institute of Physics 2020 AIP advances Vol.10 No.4
Chemical lift-off and direct wafer bonding of GaN/InGaN P–I–N structures grown on ZnO
Pantzas, K., Rogers, D. J., Bove, P., Sandana, V. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2016 Journal of crystal growth Vol.435 No.-
Semibulk InGaN: A novel approach for thick, single phase, epitaxial InGaN layers grown by MOVPE
Pantzas, K., El Gmili, Y., Dickerson, J., Gautier, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2013 Journal of crystal growth Vol.370 No.-
Nanometer-scale, quantitative composition mappings of InGaN layers from a combination of scanning transmission electron microscopy and energy dispersive x-ray spectroscopy
Pantzas, K., Patriarche, G., Troadec, D., Gautier, Institute of Physics; 1999 2012 Nanotechnology Vol.23 No.45
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