RISS 처음 방문이세요?
학술연구정보서비스 검색
MyRISS
회원서비스
설정
About RISS
RISS 처음 방문 이세요?
고객센터
RISS 활용도 분석
최신/인기 학술자료
해외자료신청(E-DDS)
RISS API 센터
해외전자정보서비스 검색
Databases & Journals
해외전자자료 이용안내
해외전자자료 통계
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
최근 검색 목록
통합검색 DB 원하는 DB만 선택하여 검색하실 수 있습니다.
A~C
D~L
M~W
- 해외DB품목별 바로가기 버튼()을 통하여 직접 접속 하시면, 접근 권한이 있는 이용자에 한해 DB별 검색 가능
- JCR, PML, ProQuest Central 품목은 체크박스에 개별 선택을 통한 제한 검색 불가
※ 구독기관 소속 이용자에 한하여 품목명 오른편의 바로가기 버튼() 으로 직접 접속이 가능하며, JCR은 통합검색 후 출력되는 화면 내에서도 이용 가능
개별검색 DB통합검색이 안되는 DB는 DB아이콘을 클릭하여 이용하실 수 있습니다.
전분야 전자저널
전분야 신문기사
교육분야
전분야
영어사전
법학분야
통계정보 및 조사/분석시스템
해외석박사학위논문 목록
해외석박사학위논문 원문
예술 / 패션
법률/뉴스정보(미국, 영연방)
법률/뉴스정보(일본)
법률/뉴스정보(중국)
법률/뉴스정보(프랑스)
<해외전자자료 이용권한 안내>
- 이용 대상 : RISS의 모든 해외전자자료는 교수, 강사, 대학(원)생, 연구원, 대학직원에 한하여(로그인 필수) 이용 가능
- 구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색 및 등록된 대학IP 대역 내에서 24시간 무료 이용
- 미구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색을 통한 오후 4시~익일 오전 9시 무료 이용
※ 단, EBSCO ASC/BSC(오후 5시~익일 오전 9시 무료 이용)
RISS 인기검색어
검색결과 좁혀 보기
좁혀본 항목 보기순서
오늘 본 자료
System-Level Test Synthesis for Mixed-Signal Designs
Ozev, S. INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS 2001 IEEE transactions on circuits and systems Analog a Vol.48 No.6
Testability Implications in Low-Cost Integrated Radio Transceivers: A Bluetooth Case Study
Ozev, S., Olgaard, C., Orailoglu, A. unknown 2001 Proceedings of the International Test Conference Vol.- No.-
AUTOMATED TEST DEVELOPMENT AND TEST TIME REDUCTION FOR RF SUBSYSTEMS
Ozev, S., Orailoglu, A., Haggag, H. IEEE; 1999 2002 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTE Vol.- No.1
Wafer-level RF Test and DfT for VCO Modulating Transceiver Architectures
Ozev, S., Olgaard, C. IEEE Computer Society, 2004 IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM Vol.22 No.-
End-to-End Testability Analysis and DfT Insertion for Mixed-Signal Paths
Ozev, S., Orailoglu, A. IEEE Computer Society, 2004 Proceedings, IEEE International Conference on Comp Vol.- No.-
Test Synthesis for Mixed-Signal SOC Paths
Ozev, S., Bayraktaroglu, I., Orailoglu, A. New York; ACM 2007 DATE -PROCEEDINGS- CD-ROM EDITION Vol.- No.-
Implementation of a Radix-2^n Multiplier Using High Performance Logic
Ozev, S., Altinordu, A., Dundar, G. IEEE 1994 PROCEEDINGS OF MELECON MEDITERRANEAN ELECTROTECHNI Vol.1 No.-
Low-Cost Test for Large Analog IC's
Ozev, S.,Orailoglu, A. IEEE Computer Society 1999 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT T Vol.11 No.-
Ozev, S.,Ocailoglu, A.,Haggag, H. IEEE 2002 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTE Vol.1 No.-
Statistical Tolerance Analysis for Assured Analog Test Coverage
Ozev, S., Orailoglu, A. Kluwer Academic Publishers 2003 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING Vol.19 No.2
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료