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Characteristic length and enhancement time of a runaway electron avalanche in strong electric fields
Oreshkin, E. V., Barengolts, S. A., Oreshkin, V. I Springer Science + Business Media 2012 TECHNICAL PHYSICS LETTERS C/C OF PIS'MA V ZHURNAL Vol.38 No.7
Coulomb explosion of "hot spot"
Oreshkin, V. I., Oreshkin, E. V., Chaikovsky, S. A American Institute of Physics 2016 Physics of plasmas Vol.23 No.9
Real-time decay of fluorinated fullerene molecules on Cu(001) surface controlled by initial coverage
Oreshkin, A. I., Muzychenko, D. A., Oreshkin, S. I Springer Science + Business Media 2018 NANO RESEARCH Vol.11 No.4
Coulomb explosion of the hot spot of micropinches
Oreshkin, V. I., Oreshkin, E. V. Springer Science + Business Media 2017 TECHNICAL PHYSICS C/C OF ZHURNAL TEKHNICHESKOI FIZ Vol.62 No.1
The atomic structure of a bulk metallic glass resolved by scanning tunneling microscopy and ab-initio molecular dynamics simulation
Belosludov, R.V., Oreshkin, A.I., Oreshkin, S.I., Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020 Journal of Alloys and Compounds Vol.816 No.-
Tunneling spectroscopy of a phosphorus impurity atom on the Ge(111)-(2 × 1) surface
Savinov, S. V., Oreshkin, A. I., Oreshkin, S. I., Springer Science + Business Media 2015 Journal of Experimental and Theoretical Physics Vol.120 No.6
Ab initio study of surface electronic structure of phosphorus donor impurity on Ge(111)-(2×1) surface
Savinov, S. V., Oreshkin, A. I., Oreshkin, S. I. Springer Science + Business Media 2013 JETP Letters Vol.97 No.7
Ab initio electronic structure of the Ge(111)-(2 × 1) surface in the presence of surface vacancy. Application to STM data analysis
Savinov, S. V., Oreshkin, A. I., Oreshkin, S. I. Springer Science + Business Media 2012 JETP Letters Vol.96 No.1
The surface structures growth’s features caused by Ge adsorption on the Au(111) surface
Muzychenko, D. A., Oreshkin, A. I., Oreshkin, S. I Springer Science + Business Media 2017 JETP Letters Vol.106 No.4
Ag-induced atomic structures on the Si(110) surface
Maslova, N. S., Oreshkin, A. I., Oreshkin, S. I., Springer Science + Business Media 2006 JETP Letters Vol.84 No.6
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