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Quantitative thickness measurement of polarity-inverted piezoelectric thin-film layer by scanning nonlinear dielectric microscopy
Odagawa, Hiroyuki, Terada, Koshiro, Tanaka, Yoh IOP Publishing 2017 Japanese Journal of Applied Physics Vol.56 No.10
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Odagawa, T., Nakajima, K., Tanaka, K., Inoue, T. unknown 1992 IEEE INTERNATIONAL SEMICONDUCTOR LASER CONFERENCE Vol.13 No.-
OBSERVATION OF NANO-SIZE FERROELECTRIC DOMAINS AND CRYSTAL POLARITY USING SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY
Odagawa, H. 00 2001 Integrated ferroelectrics Vol.32 No.1-4
Characteristics of Bicrystal Josephson Junction Using YBa~2(Cu~1~-~xNi~x)~3O~7~-~�Films
Odagawa, A., Enomoto, Y. Springer 1994 ADVANCES IN SUPERCONDUCTIVITY Vol.7--2 No.-
Theoretical and Experimental Study on Nanoscale Ferroelectric Domain Measurement Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
Odagawa, H. Japanese Journal of Applied Physics; 1999 2000 Japanese Journal of Applied Physics Vol.39 No.9B
B106 Image-Based Visualization of 10^5 Order Particles
Odagawa, M., Takeshima, Y., Fujishiro, I., Kikugaw Visualization Society of Japan 2008 可視化情報學會誌 Vol.28 No.-
Study of Long-Term-Retention Characteristics and Wall Behavior of Nano-Inverted Domains on Congruent Single-Crystal LiTaO~3 Based on Wall Energy [published September 22, 2006]
Odagawa, N., Cho, Y. Japanese Journal of Applied Physics; 1999 2006 Japanese Journal of Applied Physics Vol.45 No.9B
Simultaneous Observation of Ferroelectric Domain Patterns by Scanning Nonlinear Dielectric Microscope and Surface Morphology by Atomic Force Microscope
Odagawa, H. Japanese Journal of Applied Physics; 1999 2000 Japanese Journal of Applied Physics Vol.39 No.6B
Temperature dependence of colossal electro-resistance of Pr~0~.~7Ca~0~.~3MnO~3 thin films
Odagawa, A., Kanno, T., Adachi, H., Sato, H., Inou Elsevier 2005 Thin Solid Films Vol.486 No.1-2
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