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X-ray reflectometry and grazing-incidence X-ray fluorescence characterization of innovative electrodes for tantalum-based resistive random access memories
Nolot, E., Caby, B., Gassilloud, R., Veillerot, M. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2018 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.149 No.-
Laser Scattering: A Fast, Sensitive, In-Line Technique for Quantum Dots Process Development and Monitoring
Nolot, E., Dufourcq, J., Favier, S., Bodnar, S. Warrendale, Pa.; Materials Research Society; 1999 2008 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.1117 No.-
Performances and limitations of Lab-to-Fab strategies for inline optical metrology [8466-4]
Nolot, E., Andre, A., Michallet, A. International Society for Optical Engineering; 1999 2012 Proceedings of SPIE, the International Society for Vol.8466 No.-
Corrigendum to "X-ray reflectometry and grazing-incidence X-ray fluorescence characterization of innovative electrodes for tantalum-based resistive random access memories" [Spectrochimica Acta Part B volume (2018) 71–75]
Nolot, E., Caby, B., Gassilloud, R., Veillerot, M. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2019 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.160 No.-
Grazing-incidence X-ray fluorescence analysis of thin chalcogenide materials deposited on Bragg mirrors
Nolot, E., Pessoa, W., Torrengo, S., Mazel, Y., Be Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.168 No.-
P7-1806 Optical Constants Determination of Pseudomorphic Si~1~-~XGe~x Layers on Si(001), with 0<x<0.54
Nolot, E., Hartmann, J. M., Hilfiker, J. The Electrochemical Society 2014 ECS Transactions Vol.2014 No.64
Applications of X-Ray Reflectometry to Develop and Monitor FEOL Processes for sub-45nm Technology Nodes
Nolot, E., Bogumilowicz, Y., Lhostis, S., Danel, A IOP INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING LTD 2007 AIP Conference Proceedings Series Vol.931 No.-
Practical Applications of XRR-XRF Metrology Tool
Nolot, E., Michallet, A. IOP INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING LTD 2005 AIP Conference Proceedings Series Vol.788 No.-
Laser Scattering: A Fast, Sensitive, In-Line Technique for Advanced Process Development and Monitoring
Nolot, E., Arrazat, B., Favier, S., Borde, Y., Dam IOP INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING LTD 2007 AIP Conference Proceedings Series Vol.931 No.-
Football et psychose
Nolot, F., Vedie, C. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2008 ANNALES MEDICOPSYCHOLOGIQUES Vol.166 No.10
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