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Noh, D. O American Dairy Science Association 1997 Journal of dairy science Vol.80 No.12
Influence of Bile on Cellular Integrity and �Galactosidase Activity of Lactobacillus acidophilus
Noh, D. O. AMERICAN DAIRY SCIENCE ASSOCIATION 1993 Journal of dairy science Vol.76 No.5
Influence of Bile on �Galactosidase Activity of Component Species of Yogurt Starter Cultures
Noh, D. O. AMERICAN DAIRY SCIENCE ASSOCIATION 1994 Journal of dairy science Vol.77 No.12
Noh, D. O. AMERICAN DAIRY SCIENCE ASSOCIATION 1997 Journal of dairy science Vol.80 No.12
Improvement of Electron Beam Writing Accuracy in Mix and Match Lithography
Nohdo, S., Yoshizawa, N., Kasuga, T., Koyama, M. Electrochemical Society of Japan, Electronic Materials Committee 1998 PROCEEDINGS OF THE SYMPOSIUM ON SEMICONDUCTORS AND Vol.55 No.-
Alignment accuracy of LEEPL: image placement error correction [5130-21]
Nohdo, S., Motohashi, F., Shimazu, N., Nakano, H. International Society for Optical Engineering; 1999 2003 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.5130 No.5-6
BEOL process technology based on proximity electron lithography: demonstration of the via-chain yield comparable with ArF lithography [5751-59]
Nohdo, S., Omori, S., Iwase, K., Yoshizawa, M., Mo International Society for Optical Engineering; 1999 2005 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.5751 No.1
Imaging capability of low-energy electron-beam proximity-projection lithography toward the 65/45-nm node [5037-77]
Nakano, H., Nohdo, S., Oguni, K., Motohashi, T., Y International Society for Optical Engineering; 1999 2003 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.5037 No.2
Feedforward correction of mask image placement for proximity electron lithography [5446-127]
Omori, S., Nohdo, S., Motohashi, T., Kitagawa, T. International Society for Optical Engineering; 1999 2004 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.5446 No.2
Progress in proximity electron lithography: demonstration of print and overlay performance using the low-energy electron beam proximity-projection lithography beta tool
Omori, S., Nohdo, S., Nohama, S., Nakayama, K., Iw SPIE-THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING 2004 Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS Vol.3 No.3
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