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Nanver, L. K. ELSEVIER SEQUOIA S A 1993 Sensors and actuators. A Physical Vol.36 No.2
Low stress nitride as surface isolation in bipolar transistors
Nanver, L. K.,French, P. J.,Goudena, E. J. G.,Van Institute of Materials 1994 Materials Science and Technology Vol.11 No.1
(Invited) Pure Dopant Deposition of B and Ga for Ultrashallow Junctions in Si-based Devices
Nanver, L.K., Sammak, A., Mohammadi, V., Mok, K.R. Pennington, N.J.; Electrochemical Society 2012 ECS Transactions Vol.49 No.1
Ultra-Low-Temperature Low-Ohmic Contacts for SOA Applications
Nanver, L. K.,Van Zeiji, H. W.,Schellevis, H.,Mall IEEE 1999 Proceedings of the ... Bipolar/BiCMOS Circuits and Vol.9 No.-
Kelvin Test Structure for Measuring Contact Resistance of Shallow Junctions
Nanver, L. K., Goudena, E. J. G., Slabbekoorn, J. IEEE 1996 Proceedings of the IEEE International Conference o Vol.3 No.-
High-Frequency SiGe HBT's with Implanted Emitters
Nanver, L. K., Goudena, E. J. G., Visser, C., Van Editions Frontiers 1996 ESSDERC -CONFERENCE- Vol.26 No.-
Material Reliability of Low-Temperature Boron Deposition for PureB Silicon Photodiode Fabrication
Nanver, L. K. Springer Nature 2018 MRS advances Vol.3 No.57-58
Improved RF Devices for Future Adaptive Wireless Systems Using Two-Sided Contacting and AIN Cooling
Nanver, L.K., Schellevis, H., Scholtes, T.L.M., La IEEE; 1998 2009 IEEE journal of solid-state circuits Vol.44 No.9
Optimisation of the base-link in fully-implanted NPNs
Nanver, L. K. IEE 1993 Electronics Letters Vol.29 No.16
Integration of MOSFETs with SiGe dots as stressor material
Nanver, L.K., Jovanovic, V., Biasotto, C., Moers, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 Solid-State Electronics Vol.60 No.1
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