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High-density layer at the SiO2/Si interface observed by difference x-ray reflectivity
N. Awaji, S. Ohkubo, T. Nakanishi, Y. Sugita, K. T Institute of Pure and Applied Physics 1996 Japanese Journal of Applied Physics Vol.35 No.1B
New Evaluation Techniques for Porous Films Including Nano-Clustering Silica Based on Grazing Incidence Small Angle X-ray Scattering With Two Component Pore Model
Awaji, N., Suzuki, T., Doi, S., Nakata, Y., Shimiz Materials Research Society, 2004 ADVANCED METALLIZATION CONFERENCE IN Vol.- No.-
Wavelength dispersive grazing incidence X-ray fluorescence of multilayer thin films
Awaji, N. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.59 No.8
Exo-Electron Measurements in AC-PDPs with Exposed Address-Electrode Structure
Awaji, N., Tolner, H., Zhao, L., Jiang, J., Kajiya SOCIETY FOR INFORMATION DISPLAY 2010 SID International Symposium. Digest of Technical P Vol.41 No.1
HIGH-ACCURACY X-RAY REFLECTIVITY STUDY OF NATIVE-OXIDE FORMED IN CHEMICAL TREATMENT
N. Awaji, Y. Sugita, S. Ohkubo, T. Nakanishi, K. T Institute of Pure and Applied Physics 1995 Japanese Journal of Applied Physics Vol.34 No.8A
37.3: Wall Voltage Loss by Exoemission
Awaji, N., Tolner, H., Miyamoto, S., Kajiyama, H. SOCIETY FOR INFORMATION DISPLAY 2011 SID International Symposium. Digest of Technical P Vol.42 No.1
Wavelength-dispersive total reflection X-ray fluorescence with high-brilliance undulator radiation at SPring-8
N. Awaji, S. Ozaki, J. Nishino, S. Noguchi, T. Yam Institute of Pure and Applied Physics 2000 Japanese Journal of Applied Physics Vol.39 No.12A
Detection Limits of Trace Elements for Wavelength Dispersive Total X-Ray Fluorescence under High Flux Synchrotron Radiation
Awaji, N., Nomura, K., Doi, S., Takemura, M., Kami Japanese Journal of Applied Physics; 1999 2004 Japanese Journal of Applied Physics Vol.43 No.590
Structural relaxation of SiO~2/Si interfacial layer during annealing
Awaji, N. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1997 Applied Surface Science Vol.117-118 No.-
In Situ Observation of Epitaxial Microcrystals in Thermally Grown SiO₂ on Si(100)
Awaji, N.,Sugita, Y.,Horii, Y. American Institute of Physics 1999 Applied Physics Letters Vol.74 No.18
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