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Muntele, C. I., Allayarov, S. R., Muntele, I. C., Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2007 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.261 No.1-2
Surface characterization of silicon carbide following shallow implantation of platinum ions
Muntele, C. I., Ichou, R., Muntele, I. C., Sarkiso Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2007 Surface & Coatings Technology Vol.201 No.19-20
Surface Characterization of Silicon Carbide Following Shallow Implantation of Platinum Ions for High Temperature Hydrogen Sensing Applications
Muntele, C., Budak, S., Muntele, I., Ila, D. Warrendale, Pa.; Materials Research Society; 1999 2006 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.929 No.-
ZnO nanocluster formation in SiO2 by low energy ion implantation
Muntele, I., Muntele, C., Thevenard, P., Ila, D. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2007 Surface & Coatings Technology Vol.201 No.19-20
Depth Profiling of SiC Lattice Damage Using Micro-Raman Spectroscopy
Muntele, I. C., Ila, D., Muntele, C. I., Poker, D. Warrendale, Pa.; Materials Research Society; 1999 2002 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.692 No.-
Zinc Oxide Nanocluster Formation by Low Energy Ion Implantation
Muntele, I., Thevenard, P., Muntele, C., Chhay, B. Warrendale, Pa.; Materials Research Society; 1999 2004 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.829 No.-
Muntele, I., Thevenard, P., Muntele, C., Chhay, B. MRS 2005 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.829 No.-
Double Alignment Channeling at CIM - Alabama A&M University
Muntele, I. C.,Muntele, C. I.,Ila, D.,Zimmerman, R American Institute of Physics 2001 AIP Conference Proceedings Series Vol.576 No.-
Properties of zinc oxide thin films bombarded with 5MeV silicon ions
Muntele, I., Thevenard, P., Muntele, C., Chhay, B. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.242 No.1-2
Nitrogen beam RBS for concentration uniformity measurements of SiO2:Au thin layer co-depositions
Muntele, C. I., Muntele, I. C., Zimmerman, R. L., Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.219-220 No.2
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