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Dynamical theory of X-ray diffraction by multilayered structures with microdefects
Molodkin, V. B., Olikhovskii, S. I., Kislovskii, E John Wiley & Sons, Ltd 2007 Physica Status Solidi. A Vol.204 No.8
Anomalous Sensitivity of Deformation Dependence of Total Integrated Intensity of Dynamical Diffraction to Microdefects in Single Crystals
V. B. Molodkin, A. I. Nizkova, V. V. Lizunov, V. V Natsional'na Akademiya Nauk Ukrainy, Instytut Metalofizyky 2018 Metallofizika i Noveishie Tekhnologii Vol.40 No.8
Heuristic Model of Deformation Dependence of Total Integrated Intensity of Dynamical Diffraction for Diagnostics of Single Crystals with Defects of Several Types
V. B. Molodkin, H. I. Nyzkova, V. V. Lizunov, V. V Natsional'na Akademiya Nauk Ukrainy, Instytut Metalofizyky 2018 Metallofizika i Noveishie Tekhnologii Vol.40 No.9
Dispersion Effects of Interconnection of the Scattering Pattern Dependences on Different Diffraction Conditions and Huge Intensification of These Dependences and Their Structure Sensitivity and Informativeness
L. M. Skapa , V. V. Lizunov , V. B. Molodkin , E. Natsional'na Akademiya Nauk Ukrainy, Instytut Metalofizyky 2015 Metallofizika i Noveishie Tekhnologii Vol.37 No.11
X-ray diffraction characterization of microdefects in silicon crystals after high-energy electron irradiation
Molodkin, V. B., Olikhovskii, S. I., Len, E. G., S John Wiley & Sons, Ltd 2011 Physica Status Solidi. A Vol.208 No.11
Bragg Diffraction of X-Rays by Single Crystals with Large Microdefects. I. Generalized Dynamical Theory
Molodkin, V. B. ACADEMIC VERLAG GMBH 2001 Physica status solidi. B Vol.227 No.2
Dynamical theoretical model of the high-resolution double-crystal x-ray diffractometry of imperfect single crystals with microdefects (12 pages)
Molodkin, V.B., Olikhovskii, S.I., Kislovskii, E.N AMERICAN PHYSICAL SOCIETY 2008 Physical Review B Vol.78 No.22
Mixed-ligand iridium(IV) complexes with amino acids, adenine and hypoxanthine
Molodkin, A. K., Esina, N. Y., Kurasova, M. N. Springer Science + Business Media 2010 Russian Journal of Inorganic Chemistry Vol.55 No.3
Sensitivity of triple-crystal X-ray diffractometers to microdefects in silicon
Molodkin, V. B., Olikhovskii, S. I., Len, E. G., K John Wiley & Sons, Ltd 2009 Physica Status Solidi. A Vol.206 No.8
Dynamical diffraction model for phase-contrast analyzer-based imaging
Molodkin, V.B., Velikhovskyi, G.O., Lizunova, S.V. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2019 Optics communications Vol.439 No.-
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