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Mikhnev, A. D Allerton Press, Inc 1995 Russian Journal of Non-Ferrous Metals Vol.36 No.4
Discrimination of Near-Surface Targets in Step-Frequency Radar
Mikhnev, V., Vainikainen, P. Nexus Media Limited; 1996 2001 European Microwave Conference Vol.31 No.3
Time-Domain Terahertz Imaging of Layered Dielectric Structures With Interferometry-Enhanced Sensitivity
Mikhnev, Valeri A., Vainshtein, Sergey N., Kostamo unknown 2020 IEEE TRANSACTIONS ON TERAHERTZ SCIENCE AND TECHNOL Vol.10 No.5
Estimation of errors of sampling, sample preparation, and sample analysis in the monitoring scheme of hydrochemistry shop of the Achinsk Alumina Refinery
Mikhnev, A. D., Tregubova, E. V. Springer Science + Business Media 2007 Russian Journal of Non-Ferrous Metals Vol.48 No.1
Microwave Imaging of Layered Structures in Civil Engineering
Mikhnev, V., Vainikainen, P. Nexus Media Limited; 1996 2002 European Microwave Conference Vol.32 No.2
Estimation of sampling, sample preparing, and sample analysis errors in hydrochemistry shop checking circuit at Achinsk Alumina Integrated Plant
Mikhnev, A. D., Tregubova, E. V. IZVESTIIA- VYSSHIE UCHEBNYE ZAVEDENIIA TSVETNAIA 2007 IZVESTIIA- VYSSHIE UCHEBNYE ZAVEDENIIA TSVETNAIA M Vol.- No.1
An advanced method for determining the wall thickness in buildings
Mikhnev, V. A., Lyubetskii, N. V., Palto, A. A. Springer Science + Business Media 2005 RUSSIAN JOURNAL OF NONDESTRUCTIVE TESTING C/C OF D Vol.41 No.1
Effects of Basic Anthropometric Relationships in the Chest Cavity on Vector-Cardiographic Measurements: A Model Study
Mikhnev, A. A., Barinova, N. E., Sakhnova, T. A., KLUWER ACADEMIC/PLENUM PUBLISHERS 2002 MEASUREMENT TECHNIQUES C/C OF IZMERITEL'NAIA TEKHN Vol.45 No.4
Iterative reconstruction of the one-dimensional dielectric permittivity profile using frequency domain microwave reflection measurements
Mikhnev, V. A. Ohmsha 1997 Studies in Applied Electromagnetics and Mechanics Vol.13 No.-
How ion-beam etching affects the surface quality of optical articles
Mikhnev, R. A. OPTICAL SOCIETY OF AMERICA 1999 Journal of optical technology Vol.66 No.12
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