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Optical and structural characterization of copper-based colloidal particles in SiO~2 coatings
Mendoza-Galvan, A., Perez-Robles, J. F., Espinoza- American Vacuum Society 1998 Journal of Vacuum Science & Technology. A Vol.17 No.4
Spectroscopic ellipsometry study on the dielectric function of bulk Ti~2AlN, Ti~2AlC, Nb~2AlC, (Ti~0~.~5, Nb~0~.~5)~2AlC, and Ti~3GeC~2 MAX-phases (8 pages)
Mendoza-Galvan, A., Rybka, M., Jarrendahl, K., Arw AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2011 Journal of Applied Physics Vol.109 No.1
Effect of a temperature gradient on ellipsometry measurements in supercritical CO2
Mendoza-Galvan, A., Trejo-Cruz, C., Solis-Canto, O Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2012 The Journal of supercritical fluids Vol.64 No.-
Spectroscopic ellipsometry study of CuCdTeO thin films grown by reactive co-sputtering
Mendoza-Galvan, A., Jimenez-Sandoval, S., Carmona- Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 Thin Solid Films Vol.519 No.9
Electrochromic Nickel Oxide-Based Thin Films Deposited by Chemical Bath
Mendoza-Galvan, A., Vidales-Hurtado, M.A. Stafa-Zuerich, Switzerland; UK; Trans Tech Publications Ltd 2009 Advances in Science and Technology Vol.55 No.-
Optical properties of CuCdTeO thin films sputtered from CdTe-CuO composite targets
Mendoza-Galvan, A., Arreola-Jardon, G., Karlsson, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2014 Thin Solid Films Vol.571 No.3
Spectroscopic ellipsometry analysis of silicon nanotips obtained by electron cyclotron resonance plasma etching
Mendoza-Galvan, A., Jarrendahl, K., Arwin, H., Hua OSA OPTICAL SOCIETY OF AMERICA 2009 Applied Optics Vol.48 No.26
Effect of metal-ion doping on the optical properties of nanocrystalline ZnO thin films (6 pages)
Mendoza-Galvan, A., Trejo-Cruz, C., Lee, J., Bhatt AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2006 Journal of Applied Physics Vol.99 No.1
Effective dielectric function modeling of inhomogeneous and anisotropic silver films
Mendoza-Galvan, A. ELSEVIER 1994 Physica Vol.207 No.1-3
Optical properties of Ge:Sb:Te ternary alloys
Garcia-Garcia, E., Mendoza-Galvan, A., Vorobiev, Y American Vacuum Society 1998 Journal of Vacuum Science & Technology. A Vol.17 No.4
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