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Surface force-induced bonding at metal multiasperity contacts
Maniks, J VNU Science Press 1996 Journal of Adhesion Science and Technology Vol.10 No.6
Nanostructuring and hardening of LiF crystals irradiated with 3–15 MeV Au ions
Maniks, J., Manika, I., Grants, R., Zabels, R., Sc Springer Science + Business Media 2011 APPLIED PHYSICS A MATERIALS SCIENCE AND PROCESSING Vol.104 No.4
Nanostructuring and strengthening of LiF crystals by swift heavy ions: AFM, XRD and nanoindentation study
Maniks, J., Manika, I., Zabels, R., Grants, R., Ta Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2012 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.282 No.-
The Joining of LiNbO~3, Quartz, TlBr-TlI and Other Optical Materials by the Use of Thin Metal Films as Bonding Agents
Maniks, J.,Simanovskis, A. Kluwer Acadmeic 2000 NATO ASI SERIES 3 HIGH TECHNOLOGY Vol.77 No.-
Methods of controllable internal rupture in solids and liquids for obtaining atomically-clean surfaces and investigating their adhesion
Maniks, J. PERGAMON PRESS 1995 Vacuum Vol.46 No.12
Maniks, J. VSP 1996 Journal of Adhesion Science and Technology Vol.10 No.6
Deformation behavior and interfacial sliding in carbon/copper nanocomposite films deposited by high power DC magnetron sputtering
Maniks, J., Mitin, V., Kanders, U., Kovalenko, V. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 Surface & Coatings Technology Vol.276 No.-
Swift heavy ion induced modifications of luminescence and mechanical properties of polypropylene/ZnO nanocomposites
Maniks, J., Grigorjeva, L., Zabels, R., Millers, D Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2014 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.326 No.-
Effect of Surface Diffusion on the Contact Formation and Adhesion of Atomically-Clean Surfaces of Lead, Tin and Pb-Sn Eutectic Alloy
Maniks, J., Muktepavela, F. Trans Tech 1998 Materials Science Forum Vol.294-296 No.-
Indentation creep and stress relaxation in amorphous As-S-Se and As-S films [4415-07]
Maniks, J. International Society for Optical Engineering; 1999 2001 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.- No.4415
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