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Ion-beam-assisted nanocrystal formation in silicon implanted with high doses of Pb
M. Kalitzova, G. Zollo, R. Yankov, C. Angelov, S. Institute of Pure and Applied Physics 2001 Japanese Journal of Applied Physics Vol.40 No.10
Precipitation of superstructured nano-crystals in high-dose implanted Si: an XHRTEM study
Zollo, G., Kalitzova, M., Manno, D., Vitali, G. IOP PUBLISHING LTD 2004 Journal of Physics. D, Applied Physics Vol.37 No.19
High-resolution electron microscopy of Zn- and Bi-related superlattices in ion implanted (1 0 0) Si
Zollo, G., Vitali, G., Kalitzova, M., Manno, D. Kluwer Academic Publishers 2003 Journal of materials science Materials in electron Vol.14 No.10-12
XHRTEM of high temperature implanted and laser annealed GaAs
Zollo, G., Pizzuto, C., Vitali, G., Kalitzova, M. Institute of Physics Pub 1998 ELECTRON MICROSCOPY -INTERNATIONAL CONGRESS- Vol.14 No.3
Radiation damage in Ge induced by Te+ implantation near channeling conditions
D.S. Karpuzov, M.G. Kalitzova, G. Vitali, S. Kosti Elsevier BV 1989 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.39 No.1-4
HIGH-VOLTAGE TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY OF LOW-POWER PULSED-LASER ANNEALING OF ZN+ IMPLANTED GAAS
N. Pashov, M. Kalitzova, G. Vitali, M. Rossi, D. B Institute of Pure and Applied Physics 1993 Japanese Journal of Applied Physics Vol.32 No.6A
Effects of the annealing atmosphere on the electrical properties of low-power pulsed-laser annealed Zn-implanted InP
Pizzuto, C.,Vitali, G.,Zollo, G.,Kalitzova, M. Pergamon 2000 Vacuum Vol.58 No.2-3
High resolution transmission electron microscopy of elevated temperature Zn
G. Zollo, C. Pizzuto, G. Vitali, M. Kalitzova, D. American Institute of Physics 2000 Journal of Applied Physics Vol.88 No.4
High resolution electron microscopy of Zn -implanted GaAs
Pashov, N.,Kalitzova, M.,Vitali, G.,Rossi, M. Wiley 1994 ELECTRONIC AND ELECTRICAL ENGINEERING RESEARCH STU Vol.- No.1
High temperature-induced crystallization in tantalum pentoxide layers and its influence on the electrical properties
Atanassova, E., Kalitzova, M., Zollo, G., Paskalev Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Thin Solid Films Vol.426 No.1-2
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