RISS 처음 방문이세요?
학술연구정보서비스 검색
MyRISS
회원서비스
설정
About RISS
RISS 처음 방문 이세요?
고객센터
RISS 활용도 분석
최신/인기 학술자료
해외자료신청(E-DDS)
RISS API 센터
해외전자정보서비스 검색
Databases & Journals
해외전자자료 이용안내
해외전자자료 통계
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
최근 검색 목록
통합검색 DB 원하는 DB만 선택하여 검색하실 수 있습니다.
A~C
D~L
M~W
- 해외DB품목별 바로가기 버튼()을 통하여 직접 접속 하시면, 접근 권한이 있는 이용자에 한해 DB별 검색 가능
- JCR, PML, ProQuest Central 품목은 체크박스에 개별 선택을 통한 제한 검색 불가
※ 구독기관 소속 이용자에 한하여 품목명 오른편의 바로가기 버튼() 으로 직접 접속이 가능하며, JCR은 통합검색 후 출력되는 화면 내에서도 이용 가능
개별검색 DB통합검색이 안되는 DB는 DB아이콘을 클릭하여 이용하실 수 있습니다.
전분야 전자저널
전분야 신문기사
교육분야
전분야
영어사전
법학분야
통계정보 및 조사/분석시스템
해외석박사학위논문 목록
해외석박사학위논문 원문
예술 / 패션
법률/뉴스정보(미국, 영연방)
법률/뉴스정보(일본)
법률/뉴스정보(중국)
법률/뉴스정보(프랑스)
<해외전자자료 이용권한 안내>
- 이용 대상 : RISS의 모든 해외전자자료는 교수, 강사, 대학(원)생, 연구원, 대학직원에 한하여(로그인 필수) 이용 가능
- 구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색 및 등록된 대학IP 대역 내에서 24시간 무료 이용
- 미구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색을 통한 오후 4시~익일 오전 9시 무료 이용
※ 단, EBSCO ASC/BSC(오후 5시~익일 오전 9시 무료 이용)
RISS 인기검색어
검색결과 좁혀 보기
좁혀본 항목 보기순서
오늘 본 자료
Magnetization Reversal by Rotation and Wall Motion in Thin Films of Nickel-Iron Alloys†
Bradley, By E. M.Prutton, M. Taylor and Francis 1959 Journal of Electronics and Control Vol.6 No.1
Surface compositions of the two phases of differently prepared Ni-Cr-Al and Ni-Cr-Al-Zr samples
M.M. El Gomati , M. Prutton , R.H. Roberts Elsevier Science Publishers BV 1985 Applied Surface Science Vol.22-23 No.1
Auger microscopy with a parallel acquisition spectrometer
Jacka, M.,Kale, A.,Tyndall, M.,Prutton, M. Czechoslovak Society for Electron Microscopy 2000 PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN CONGRESS ON ELECTRON M Vol.12 No.3
Optical properties of dielectric films: Edited by Norman N. Axelrod; published by Electrochemical Society Inc.; New York; 1968; 283 pages; 137 illus.; price: $9.00.
M. Prutton Elsevier BV * North-Holland 1969 Thin Solid Films Vol.4 No.2
Quantitative AES-Mapping and Depth Profiling
Prutton, M. SPRINGER VERLAG 2000 Mikrochimica acta Vol.132 No.2-4
Quantitative surface chemical mapping with Auger and backscattered electron signals
Prutton, M. ELSEVIER 1995 Ultramicroscopy Vol.59 No.1-4
Data processing for spectrum-images: extracting information from the data mountain
Prutton, M. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1999 Applied Surface Science Vol.144-145 No.-
TECHNIQUES FOR THE CORRECTION OF TOPOGRAPHICAL EFFECTS IN SCANNING AUGER-ELECTRON MICROSCOPY
M. Prutton, L. A. Larson, H. Poppa American Institute of Physics 1983 Journal of Applied Physics Vol.54 No.1
A UHV evaporator for leed;Auger emission studies
M. Prutton, H. Tokutaka Elsevier BV * North-Holland 1969 Thin Solid Films Vol.3 No.6
On the effective mass of 180° domain walls in magnetic films
Prutton, M., Leaver, K.D. Princeton Microfilm Corp 1963 Physics letters Vol.6 No.1
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료