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Amory, A. M., Briao, E., Cota, E., Lubaszewski1, M unknown 2005 Proceedings of the International Test Conference Vol.1 No.-
Testing the Configurable Analog Blocks of Field Programmable Analog Arrays
Lubaszewski, M., Balen, T., Andrade, A., Azais, F. unknown 2004 Proceedings of the International Test Conference Vol.- No.-
Checking Signatures on Boundary Scan Boards
Lubaszewski, M.,Castro Alves, V.,Nicolaidis, M.,Co IEEE Computer Society Press 1993 EUROPEAN TEST CONFERENCE Vol.3 No.-
ABILBO: Analog BuILt-in Block Observer
Lubaszewski, M., Mir, S., Pulz, L. IEEE Computer Society Press 1996 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON COMPUTER AIDED DE Vol.11 No.-
On-Line & Off-Line, Analogue & Digital, Circuit & Board, Safety & Reliability : How to Solve The Testing Puzzle?
Lubaszewski, M.,Courtois, B. IEEE 1994 IEEE ASIA PACIFIC CONFERENCE ON CIRCUITS AND SYSTE Vol.12 No.-
Bridging the Gap between Microelectronics and Micromechanics Testing
Lubaszewski, M. IEEE 1998 PROCEEDINGS OF THE ASIAN TEST SYMPOSIUM Vol.7 No.-
A Multi-Mode Stimuli Generator for Analogue and Mixed-Signal Built-In Self-Test
Lubaszewski, M.,Renovell, M.,Azais, F.,Bertrand, Y IEEE 1998 IEEE INTERNATIONAL MIXED SIGNAL TESTING WORKSHOP Vol.4 No.-
Microsystems Testing: An Approach and Open Problems
Lubaszewski, M., Cota, E. F., Courtois, B. New York; ACM 2007 DATE -PROCEEDINGS- CD-ROM EDITION Vol.- No.-
A New ATPG Tool for Analogue AC-Testing
Lubaszewski, M., Fernandes Cota, E., DiDomOmeganic IEEE 1997 IEEE INTERNATIONAL MIXED SIGNAL TESTING WORKSHOP Vol.3 No.-
Concurrent Error Detection in Analog and Mixed-Signal Integrated Circuits
Lubaszewski, M.,Mir, S.,Rueda, A.,Huertas, J. L. IEEE 1995 MIDWEST SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS Vol.38--2 No.-
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