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A Quantitative Study Of The Adhesion Between Copper, Barrier And Organic Low-k Materials
Lanckmans, F. Warrendale, Pa.; Materials Research Society; 1999 2001 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.612 No.-
Capillary and nano-liquid chromatography-tandem mass spectrometry for the quantification of small molecules in microdialysis samples: Comparison with microbore dimensions
Lanckmans, K., Van Eeckhaut, A., Sarre, S., Smolde Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 Journal of Chromatography A Vol.1131 No.1-2
Post Dry-Etch Cleaning Issues of an Organic Low-K Dielectric
Lanckmans, F. SCI TECH PUBLICATIONS LTD 1998 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.65-66 No.-
A quantitative adhesion study between contacting materials in Cu damascene structures
Lanckmans, F., Brongersma, S. H., Varga, I., Poort Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2002 Applied Surface Science Vol.201 No.1-4
Use of microbore LC-MS/MS for the quantification of oxcarbazepine and its active metabolite in rat brain microdialysis samples
Lanckmans, K., Clinckers, R., Van Eeckhaut, A., Sa Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 JOURNAL OF CHROMATOGRAPHY B Vol.831 No.1-2
Use of a structural analogue versus a stable isotope labeled internal standard for the quantification of angiotensin IV in rat brain dialysates using nano-liquid chromatography/tandem mass spectrometry
Lanckmans, K., Sarre, S., Smolders, I., Michotte, John Wiley & Sons, Ltd 2007 Rapid communications in mass spectrometry Vol.21 No.7
Quantitative liquid chromatography/mass spectrometry for the analysis of microdialysates
Lanckmans, K., Sarre, S., Smolders, I., Michotte, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2008 Talanta Vol.74 No.4
Nano-LC-MS/MS for the monitoring of angiotensin IV in rat brain microdialysates: Limitations and possibilities
Lanckmans, K., Stragier, B., Sarre, S., Smolders, John Wiley & Sons, Ltd 2007 Journal of Separation Science Vol.30 No.14
The role of H in the Cu^+ drift diffusion in plasma-deposited a-SiC:H
Lanckmans, F., Brijs, B., Maex, K. IOP PUBLISHING LTD 2002 Journal of Physics, Condensed Matter Vol.14 No.13
Use of a capacitance voltage technique to study copper drift diffusion in (porous) inorganic low-k materials
Lanckmans, F., Maex, K. ELSEVIER 2002 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.60 No.1-2
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