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Kyrsta, S., Cremer, R., Neuschutz, D., Laurenzis, ELSEVIER SEQUOIA SA 2001 Thin Solid Films Vol.398-399 No.-
Deposition and characterization of Ge-Sb-Te layers for applications in optical data storage
Kyrsta, S. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 2001 Applied Surface Science Vol.179 No.1-4
A New Method to Examine Interfacial Reactions of a Multilayered System NiAl–Hf–hBN on a Sapphire Fibre
Richter, S., Kyrsta, S., Schneider, J., Hajas, D. Springer Verlag - Wien - 2006 Mikrochimica acta Vol.155 No.1-2
Structure of the Ge–Sb–Te phase-change materials studied by theory and experiment
Sun, Z., Kyrsta, S., Music, D., Ahuja, R., Schneid Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2007 Solid state communications Vol.143 No.4-5
Influence of the composition of BCN films deposited by reactive magnetron sputtering on their properties
Martinez, C., Kyrsta, S., Cremer, R., Neuschutz, D Springer 2002 ANALYTICAL AND BIOANALYTICAL CHEMISTRY Vol.374 No.4
Examination of Interfacial Reactions of a NiAl-Hf-hBN System on a Sapphire Fibre by a Combination of EPMA and FIB Specimen Preparation
Richter, S., Kyrsta, S., Hajas, D., Schneider, J. SPRINGER 2005 Microscopy and Microanalysis Vol.11//SUP2 No.-
Application of argon r.f. plasma etching for the removal of oxidic scales on ULC steels
Martinez, C., Kyrsta, S., Cremer, R., Neuschutz, D JOHN WILEY & SONS LTD 2002 Surface and interface analysis Vol.34 No.1
Sputter deposition and film characterization of NiAl on sapphire fibres
Reichert, K., Martinez, C., Kyrsta, S., Cremer, R. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Vacuum Vol.71 No.1-2
Strength degradation mechanisms in h-BN/NiAl coated sapphire fibres with a reactive Hf or Y interlayer
Hajas, D. E., Kyrsta, S., Richter, S., Mayer, J., Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2008 Materials Science and Engineering A Vol.491 No.1-2
Effect of a BN interlayer on the tensile strength of NiAl coated sapphire fibers
Hajas, D. E., Kyrsta, S., Schneider, J. M. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 Scripta materialia Vol.55 No.3
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