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Konkol, A. ELSEVIER 1994 Ultramicroscopy Vol.55 No.2
Auger in-depth profiling of Mo-Si multilayers
Konkol, A. SLACK INCORPORATED 1994 Journal of Vacuum Science & Technology. A Vol.12 No.2
Backscattered electron contrast on cross sections of interfaces and multilayers in the scanning electron microscope
Konkol, A. ELSEVIER 1995 Ultramicroscopy Vol.58 No.3-4
Nanometer-level repeatable metrology using the Nanoruler
Konkola, P. T., Chen, C. G., Heilmann, R. K., Joo, American Vacuum Society; 1999 2003 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.21 No.6
Scanning Beam Interference Lithography
Konkola, P. T.,Chen, C. G.,Heilmann, R. K.,Pati, G ASPE 2001 PROCEEDINGS OF THE ANNUAL MEETING- AMERICAN SOCIET Vol.16 No.-
Beam steering system and spatial filtering applied to interference lithography
Konkola, P. T. American Vacuum Society; 1999 2000 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.18 No.6
Pushing the Envelope: HI-CLASS Range and Range-Rate
Konkola, P. Amos 2006 ADVANCED MAUI OPTICAL AND SPACE SURVEILLANCE TECHN Vol.1 No.-
Promoting learning and transfer between school and workplace
Konkola, R., Tuomi-Grö,hn, T., Lambert, P., Lu Taylor & Francis 2007 Journal of Education and Work Vol.20 No.3
Meek Imperialists: Humility in 17th Century England
Konkola, K. TRINITY EVANGELICAL DIVINITY SCHOOL 2007 TRINITY JOURNAL Vol.28 No.1
"People of the Book": The Production of Theological Texts in Early Modern England
KONKOLA, KARI Bibliographical Society of America 2000 PAPERS- BIBLIOGRAPHICAL SOCIETY OF AMERICA Vol.94 No.1
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