RISS 처음 방문이세요?
학술연구정보서비스 검색
MyRISS
회원서비스
설정
About RISS
RISS 처음 방문 이세요?
고객센터
RISS 활용도 분석
최신/인기 학술자료
해외자료신청(E-DDS)
RISS API 센터
해외전자정보서비스 검색
Databases & Journals
해외전자자료 이용안내
해외전자자료 통계
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
최근 검색 목록
통합검색 DB 원하는 DB만 선택하여 검색하실 수 있습니다.
A~C
D~L
M~W
- 해외DB품목별 바로가기 버튼()을 통하여 직접 접속 하시면, 접근 권한이 있는 이용자에 한해 DB별 검색 가능
- JCR, PML, ProQuest Central 품목은 체크박스에 개별 선택을 통한 제한 검색 불가
※ 구독기관 소속 이용자에 한하여 품목명 오른편의 바로가기 버튼() 으로 직접 접속이 가능하며, JCR은 통합검색 후 출력되는 화면 내에서도 이용 가능
개별검색 DB통합검색이 안되는 DB는 DB아이콘을 클릭하여 이용하실 수 있습니다.
전분야 전자저널
전분야 신문기사
교육분야
전분야
영어사전
법학분야
통계정보 및 조사/분석시스템
해외석박사학위논문 목록
해외석박사학위논문 원문
예술 / 패션
법률/뉴스정보(미국, 영연방)
법률/뉴스정보(일본)
법률/뉴스정보(중국)
법률/뉴스정보(프랑스)
<해외전자자료 이용권한 안내>
- 이용 대상 : RISS의 모든 해외전자자료는 교수, 강사, 대학(원)생, 연구원, 대학직원에 한하여(로그인 필수) 이용 가능
- 구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색 및 등록된 대학IP 대역 내에서 24시간 무료 이용
- 미구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색을 통한 오후 4시~익일 오전 9시 무료 이용
※ 단, EBSCO ASC/BSC(오후 5시~익일 오전 9시 무료 이용)
RISS 인기검색어
검색결과 좁혀 보기
좁혀본 항목 보기순서
오늘 본 자료
Electron Spin Resonance of Antisite Defects in As-Grown and Plastically Deformed GaP
Palm, J.,Kisielowski-Kemmerich, C.,Alexander, H. American Institute of Physics 1991 Applied Physics Letters Vol.58 No.1
Imaging MoS2 Nanocatalysts with Single-Atom Sensitivity
Kisielowski, C., Ramasse, Q. M., Hansen, L. P., Br John Wiley & Sons, Ltd 2010 Angewandte Chemie International Edition Vol.49 No.15
Inside Cover: Imaging MoS2 Nanocatalysts with Single-Atom Sensitivity (Angew. Chem. Int. Ed. 15/2010)
Comment on ``Three-dimensional atom probe studies of an In~xGa~1~-~xN/GaN multiple quantum well structure: Assessment of possible indium clustering'' [Appl. Phys. Lett. 90, 061903 (2007)] (2 pages)
Kisielowski, C., Bartel, T.P. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2007 Applied Physics Letters Vol.91 No.17
Object-defined Resolution Below 0.5A in Transmission Electron Microscopy-Recent Advances on the TEAM 0.5 Instrument
Kisielowski, C., Erni, R., Freitag, B. Cambridge University Press 2008 Microscopy and Microanalysis Vol.14//SUP2 No.-
Benefits of microscopy with super resolution
Kisielowski, C., Principe, E., Freitag, B., Hubert unknown 2001 Physica. C, Superconductivity Vol.308-310 No.-
Detection of Single Atoms and Buried Defects in Three Dimensions by Aberration-Corrected Electron Microscope with 0.5-A Information Limit
Kisielowski, C., Freitag, B., Bischoff, M., van Li Cambridge University Press 2008 Microscopy and Microanalysis Vol.14 No.5
Modulating Electron Beam-Sample Interactions in Imaging and Diffraction Modes by Dose Fractionation with Low Dose Rates
Kisielowski, Christian, Specht, Petra, Rozeveld, S Cambridge University Press 2021 Microscopy and Microanalysis Vol.27 No.6
Instrumental requirements for the detection of electron beam-induced object excitations at the single atom level in high-resolution transmission electron microscopy
Kisielowski, C., Specht, P., Gygax, S.M., Barton, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 MICRON Vol.68 No.-
Origin of Strain in GaN Thin Films
Kisielowski, C., Krueger, J., Leung, M., Klockenbr World Scientific 1996 International Conference on the Physics of Semicon Vol.1 No.-
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료