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Magnetic Field Induced Carrier-Type Inversion in an InGaAs/GaAs Superlattice Studied by Cyclotron Resonance
Jonak-Auer, I., Meisels, R., Kuchar, F., McCombe, World Scientific 1996 International Conference on the Physics of Semicon Vol.3 No.-
Processing of an Integrated Optical Sensor with Almost 100% Quantum Efficiency
Jonak-Auer, I., Jessenig, S. Trans Tech 2014 Key Engineering Materials Vol.2015 No.644
New integration concept of PIN photodiodes in 0.35μm CMOS technologies [8431-40]
Jonak-Auer, I., Teva, J., Park, J.M., Jessenig, S. International Society for Optical Engineering; 1999 2012 Proceedings of SPIE, the International Society for Vol.8431 No.-
Silicide sheet resistivity and metal film stress measurements as emissivity-independent techniques for RTP temperature monitoring [3884-20]
Jonak-Auer, I. SPIE 1999 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.- No.3884
Determination of the hydrogen concentration of silicon nitride layers by Fourier transform infrared spectroscopy
Jonak-Auer, I. ELSEVIER 1997 INFRARED PHYSICS AND TECHNOLOGY Vol.38 No.4
PIN photodiodes with significantly improved responsivities implemented in a 0.35μm CMOS/BiCMOS technology [7719-29]
Jonak-Auer, I., Marchlewski, A., Jessenig, S., Pol International Society for Optical Engineering; 1999 2010 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.7719 No.-
RTP temperature calibration using titanium silicides
Jonak-Auer, I. SOLID STATE TECHNOLOGY 2000 Solid state technology Vol.43 No.2
Accurate determination of the hydrogen concentration of Silicon Nitride layers by Fourier transform spectroscopy [3510-23]
Jonak-Auer, I. SPIE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL 1998 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.- No.3510
Gathering effect on dark current for CMOS fully integrated-, PIN-photodiodes [7605-09]
Teva, J., Jonak-Auer, I., Schrank, F., Kraft, J., International Society for Optical Engineering; 1999 2010 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.7605 No.-
Dark current study for CMOS fully integrated-PIN-photodiodes [8073A-64]
Teva, J., Jessenig, S., Jonak-Auer, I., Schrank, F International Society for Optical Engineering; 1999 2011 Proceedings of SPIE, the International Society for Vol.8073 No.-
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