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Influence of gate dielectrics on electrical properties of F8T2 polyfluorene thin film transistors [5217-32]
Swensen, J., Kanicki, J., Heeger, A. J. International Society for Optical Engineering; 1999 2003 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.5217 No.24
Fully Planarized a-Si:H TFTs for AM-LCDs
Lan, J.-H.,Kanicki, J.,Radler, M. J. Japan Society of Applied Physics 1998 INTERNATIONAL WORKSHOP ON ACTIVE MATRIX LIQUID CRY Vol.7 No.-
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Lan, J. H.,Nahm, J.-Y.,Kanicki, J. VDE Verlag 1999 EURODISPLAY Vol.- No.3
Hydrogenated Amorphous-Silicon Thin-Film Transistor Structure with the Buried Field Plate
Nahm, J.-Y.,Lan, J.-H.,Kanicki, J. IEEE 1999 INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING Vol.- No.-
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8.2: Many-Body Universal Approach to a-Si:H TFTs Electrical Instabilities
Martin, S., Nahm, J.-Y., Kim, J., Kanicki, J. Society for Information Display 2000 International Display Research Conference. Confere Vol.- No.-
Absolute photoluminescence quantum efficiency measurement of light-emitting thin films (3 pages)
Johnson, A. R., Lee, S.-J., Klein, J., Kanicki, J. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2007 Review of scientific instruments Vol.78 No.9
A Simple Polysilicon Thin Film Transistor Structure for Achieving High On/Off Current Ratio Independent of Gate Bias
Kanicki, J., Hatalis, M. K. Nihon Gakkai jimu center 1992 SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS Vol.8 No.-
Invited Paper: Top-Gate a-Si:H TFT-LCD Technology: Past, Present and Future
Kanicki, J., Martin, S., Ugai, Y. SID 1998 International Display Research Conference. Confere Vol.9 No.-
Nitrogen Dangling Bonds in Hydrogenated Amorphous Silicon Nitride Thin Films
Kanicki, J., Warren, W. L., Poindexter, E. H. Nihon Gakkai jimu center 1992 SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS Vol.8 No.-
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