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Nitridation of Si(100) surface with NH~3
Ishidzuka, S. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1998 Applied Surface Science Vol.130-132 No.-
Real-time monitoring of oxidation on the Ti(0 0 0 1) surface by synchrotron radiation photoelectron spectroscopy and RHEED-AES
Takakuwa, Y., Ishidzuka, S., Yoshigoe, A., Teraoka Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Applied Surface Science Vol.216 No.1-4
Comparison Between the Reaction Mechanisms of Nitridation of Si(100) by a NH~3 Molecular Beam and by a N^+~2 Ion Beam
Kusunoki, I., Ishidzuka, S., Igari, Y., Takaoka, T World Scientific 1996 SURFACE REVIEW AND LETTERS Vol.5 No.1
H~2O beams for zinc oxide film growth produced by a Pt-catalyzed H~2-O~2 reaction at various divergent aperture angles of a de Laval nozzle
Teraguchi, Yusuke, Ishidzuka, Yuki, Nakamura, T JAPAN SOCIETY OF APPLIED PHYSICS 2016 Japanese Journal of Applied Physics Vol.55 No.2
Time-resolved photoelectron spectroscopy of oxidation on the Ti(0001) surface
Takakuwa, Y., Ishidzuka, S., Yoshigoe, A., Teraoka Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.200 No.-
In-situ Observation of Oxidation of Ti(0001) Surface by Real-time Photoelectron Spectroscopy Using Synchrotron Radiation
Takakuwa, Y., Ishidzuka, S., Yoshigoe, A., Teraoka SURFACE SCIENCE SOCIETY OF JAPAN 2003 表面科學 Vol.24 No.8
Development of an EMG Acquisition System of Universal Bio-Signal Interface for High-Quality Life
Kobayashi, H., Sasakura, T., Ishidzuka, M. SICE; 1999 2010 SICE -ANNUAL CONFERENCE- Vol.2010 No.-
Oxidation Reaction Kinetics on Ti(0001) Surface Studied by Real-Time Photoelectron Spectroscopy
Takakuwa, Y., Ogawa, S., Ishidzuka, S., Yoshigoe, CATALYSIS SOCIETY OF JAPAN 2005 觸媒 Vol.47 No.5
Growth Kinetics of Very Thin Oxide on Si and Ti Surfaces Studied by Real-Time Surface Analytical Methods
Takakuwa, Y., Ogawa, S., Ishidzuka, S., Yoshigoe, SURFACE ANALYSIS SOCIETY OF JAPAN 2006 JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS Vol.13 No.1
Consumption kinetics of Si atoms during growth and decomposition of very thin oxide on Si(001) surfaces
Ogawa, S., Yoshigoe, A., Ishidzuka, S., Teraoka, Y Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 Thin Solid Films Vol.508 No.1-2
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