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41lanthanum-based dielectric films analyzed by spectroscopic ellipsometry, X-ray reflectometry and X-ray photoelectron spectroscopy
Edon, V., Gaillet, M., Hugon, M. C., Eypert, C., D John Wiley & Sons, Ltd 2008 Physica Status Solidi C Vol.5 No.5
^1^8O study of the oxidation of reactively sputtered Ti~1~-~xAl~xN barrier
Hugon, M. C. MRS MATERIALS RESEARCH SOCIETY 2001 Journal of materials research Vol.16 No.9
Step by step simulation of phototubes for the KM3NeT and ANTARES optical modules
Hugon, C. M. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.787 No.-
Thermally Stable Low Resistance Ohmic Contacts to N-Type Gallium Arsenide
Hugon, M. C.,Agius, B.,VArniere, F. American Institute of Physics 1991 Applied Physics Letters Vol.58 No.24
High density plasma deposition of device quality silicon nitride. II. Effects of thickness on the electrical properties
Hugon, M. C., Delmotte, F., Agius, B., Irene, E. A American Vacuum Society 1999 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.17 No.4
Electrical properties of metal-insulator-semiconductor structures with silicon nitride dielectrics deposited by low temperature plasma enhanced chemical vapor deposition distributed electron cyclotron resonance
Hugon, M. C. SLACK INCORPORATED 1997 Journal of Vacuum Science & Technology. A Vol.15 No.6
HIGHLY STABLE SPUTTERED NIINW REFRACTORY OHMIC CONTACT TO N-TYPE GAAS
M. C. Hugon, B. Agius, F. Varniere, M. Froment, F. American Institute of Physics 1992 Journal of Applied Physics Vol.72 No.8
Narrow resonance profiling study of the oxidation of reactively sputtered Ti1-xAlxN thin films
Hugon, M. C. Elsevier Science; 1999 2000 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.161-163 No.-
Narrow Resonance Profiling Study of the Oxidation of Ti~1~-~xAl~xN Barrier Layer
Hugon, M. C. Warrendale, Pa.; Materials Research Society; 1999 2000 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.596 No.-
Optical and Electrical Characterizations of PZT Films with Different O/Pb Stoichiometry
Hugon, M. C. 00 1996 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.433 No.-
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