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Stress release in α-Cr2O3 oxide thin films formed on Ni30-Cr and Fe47-Cr alloys
Guerain, M., Rakotovao, F., Brou, S.Y., Bonnet, G. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 Journal of Alloys and Compounds Vol.718 No.-
Delamination Morphology Maps of Chromium Oxide Scales Formed on Cr-Based Alloys: Physical Metallurgical and Materials Science
Guerain, M.,Goudeau, P.Grosseau-Poussard, J. L. Springer 2020 Metallurgical and Materials Transactions A - Physi Vol.51 No.6
A Review on High Pressure Experiments for Study of Crystallographic Behavior and Polymorphism of Pharmaceutical Materials
Guerain, Mathieu John Wiley & Sons, Ltd 2020 Journal of Pharmaceutical Sciences Vol.109 No.9
EVALUATION OF THE RELIABILITY OF IR-FREE PROBES
Guerain, Mathieu, Fleury, Elisabeth, Fontaine, Syl NKF etc. 2017 EUROCORR Vol.2017 No.1
Polymorphism and stability of ibuprofen/nicotinamide cocrystal: The effect of the crystalline synthesis method
Guerain, M., Guinet, Y., Correia, N.T., Paccou, L. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020 International Journal of Pharmaceutics Vol.584 No.-
Stress release phenomena in chromia scales formed on NiCr-30 alloys: Influence of metallurgical parameters (6 pages)
Guerain, M., Goudeau, P., Grosseau-Poussard, J.L. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2011 Journal of Applied Physics Vol.110 No.9
The use of micro-Raman imaging to measure 18O tracer distribution in thermally grown zirconia scales
Guerain, M., Mermoux, M., Duriez, C. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 Corrosion science Vol.98 No.-
Grain boundary sliding in chromia thermally grown oxide
Guerain, M., Goudeau, P., Grosseau-Poussard, J.L. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 Scripta materialia Vol.109 No.-
The use of micro-Raman imaging to measure ^1^8O tracer distribution in thermally grown zirconia scales
Local stress determination in chromia-former thanks to micro-Raman spectroscopy: A way to investigate spontaneous delamination processes (7 pages)
Guerain, M., Goudeau, P., Panicaud, B., Grosseau-P AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2013 Journal of Applied Physics Vol.113 No.6
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