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High tolerance to total ionizing dose of Omega-shaped gate field-effect transistors (3 pages)
Gaillardin, M., Paillet, P., Ferlet-Cavrois, V., C AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2006 Applied Physics Letters Vol.88 No.22
Total Ionizing Dose Effects on Triple-Gate FETs
Gaillardin, M., Paillet, P., Ferlet-Cavrois, V., F IEEE; 1999 2006 IEEE transactions on nuclear science Vol.53 No.6
Influence of working memory and executive function on stair ascent and descent in young and older adults
Gaillardin, Florence, Baudry, Stéphane Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2018 Experimental gerontology Vol.106 No.-
Enhanced Radiation-Induced Narrow Channel Effects in Commercial Formula Not Shown m Bulk Technology
Gaillardin, M., Goiffon, V., Girard, S., Martinez, IEEE; 1999 2011 IEEE transactions on nuclear science Vol.58 No.6
Investigations on heavy ion induced Single-Event Transients (SETs) in highly-scaled FinFETs
Gaillardin, M., Raine, M., Paillet, P., Adell, P. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.365 No.B
Le cholesteatome residuel: prevalence, localisation. Strategie de surveillance chez l'adulte
Gaillardin, L., Lescanne, E., Moriniere, S., Cotti Elsevier Masson 2012 Annales Francaises d'Oto-Rhino-Laryngologie et de Vol.129 No.3
Tympanoplastie en technique fermee pour cholesteatome de l'oreille moyenne de l'adulte : le cartilage << modelant >>
Gaillardin, L., Lescanne, E., Moriniere, S., Robie Elsevier Masson 2012 Annales Francaises d'Oto-Rhino-Laryngologie et de Vol.129 No.2
Comparative Genomics of Yarrowia lipolytica
Gaillardin, C., Mekouar, M., Neuveglise, C. Springer Science + Business Media 2013 MICROBIOLOGY MONOGRAPHS Vol.24 No.-
Investigations on Spectral Photon Radiation Sources to Perform TID Experiments in Micro- and Nano-Electronic Devices
Gaillardin, Marc, Lambert, Damien, Aubert, Damien IEEE; 1999 2021 IEEE transactions on nuclear science Vol.68 No.5
Transient Radiation Response of Single- and Multiple-Gate FD SOI Transistors
Gaillardin, M., Paillet, P., Ferlet-Cavrois, V., B IEEE; 1999 2007 IEEE transactions on nuclear science Vol.54 No.6
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