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Short defect characterization based on TCR parameter extraction
Firiti, A., Faujour, D., Haller, G., Moragues, J. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Microelectronics and reliability Vol.43 No.9-11
Photoelectric laser stimulation in a failure analysis laboratory
Firiti, A., Lewis, D., Beaudoin, F., Perdu, P., Ha IEEE, 2004 PROCEEDINGS OF THE IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON Vol.1 No.-
Thermal Laser Stimulation Effects on NMOS transistor
Firiti, A., Haller, G., Lewis, D., Fouillat, P., P IEEE, 2004 PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE Vol.11 No.-
Guideline for Interpreting IR Laser Stimulation Signal on Semiconductors for Materials and for Improving Failure Analysis Flow
Firiti, A., Haller, G., Beaudoin, F., Perdu, P., L ASM International; 1998 2005 INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE AN Vol.31 No.-
Impact of semiconductors material on IR Laser Stimulation signal
Firiti, A., Beaudoin, F., Haller, G., Perdu, P., L Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 Microelectronics and reliability Vol.45 No.9-11
Failure Analysis enhancement by evaluating the Photoelectric Laser Stimulation impact on mixed-mode ICs
Sienkiewicz, M., Perdu, P., Firiti, A., Sanchez, K Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2008 Microelectronics and reliability Vol.48 No.8-9
Failure Localization & Design Debug on Mixed-Mode ICs by Using the Dynamic Laser Stimulation Techniques
Sienkiewicz, M., Sanchez, K., Firiti, A., Crepel, ASM International; 1998 2007 INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE AN Vol.33 No.-
Laser Stimulation Applied to Dynamic IC Diagnostics
Beaudoin, F., Desplats, R., Perdu, P., Firiti, A. ASM International; 1998 2003 INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE AN Vol.- No.-
A new method to quantify retention-failed cells of an EEPROM CAST
Le Roux, C., Lopez, L., Firiti, A., Ogier, J. L., Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2007 Microelectronics and reliability Vol.47 No.9-11
Novel Application of the OBIRCh Amplifier for Timing Failure Localization
Sienkiewicz, M., Brule, S., Perdu, P., Firiti, A. ASM International; 1998 2008 INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE AN Vol.34 No.-
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