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Saib, F., Özel, F., Sarılmaz, A., Mahroua, O., Bel Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2019 MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING Vol.91 No.-
Sharp lower bounds for the asymptotic entropy of symmetric random walks
S. Gouëzel, F. Mathéus, F. Maucourant European Mathematical Society Publishing House 2015 Groups, geometry and dynamics Vol.9 No.3
Quantum chaos and thermalization in isolated systems of interacting particles
Borgonovi, F., Izrailev, F. M., Santos, L. F., Zel Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2016 Physics reports Vol.626 No.-
Electrical properties of Al/CZTSe nanocrystal Schottky diode
Z. Kişnişci, F. ÖzelÖ. F. Yüksel Springer Nature 2024 Journal of materials science Materials in electron Vol.35 No.11
Optical characterization of Cu2ZnSnSe4-xSx nanocrystals thin film
Yıldırım, M., Özel, F., Tuğluoğlu, N., Yüksel, F. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2016 Journal of Alloys and Compounds Vol.666 No.-
Optical characterization of Cu2ZnSnS4 nanocrystals thin film
Kişnişci, Z., Özel, F., Yüksel, F., Tuğluoğlu, N. Springer Science + Business Media 2016 Journal of materials science Materials in electron Vol.27 No.10
A study to assess the awareness of risk factors of cystic echinococcosis in Turkey
Aydin, Mehmet F., Adigüzel, Emre, Güzel, Hakan MEDICAL SERVICES DEPARTMENT SAUDI ARABIAN ARMED 2018 SAUDI MEDICAL JOURNAL Vol.39 No.3
A new penternary semiconductor Cu2CoSn(SSe)4 nanocrystal: a study on structural, dielectric and optical properties
Ü. Akın , F. Özel , A. Sarılmaz , Ö. F. Yüksel , N Chapman and Hall 2021 Journal of materials science Materials in electron Vol.32 No.22
Development of in-flow label-free single molecule sensors using planar solid-state nanopore integrated microfluidic devices
Güzel, F. D., Miles, B. IEEE 2018 Micro and Nano Letters Vol.13 No.9
Evaluation of groundwater quality and contamination in drinking water basins: a case study of the Senirkent-Uluborlu basin (Isparta-Turkey)
Aksever, F., Karagüzel, R., Mutlutürk, M. Springer Science + Business Media 2015 Environmental Earth Sciences Vol.73 No.3
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