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The cross-plane thermoelectric properties of p-Ge/Si~0~.~5Ge~0~.~5 superlattices (4 pages)
Llin, L.F., Samarelli, A., Cecchi, S., Etzelstorfe AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2013 Applied Physics Letters Vol.103 No.14
Determining the directional strain shift coefficients for tensile Ge: a combined x-ray diffraction and Raman spectroscopy study
Etzelstorfer, Tanja , Wyss, Andreas , Sess, Martin IOP Pub 2017 Measurement science & technology Vol.28 No.2
Structural investigations of the 12 Si-Ge superstructure
Etzelstorfer, T., Ahmadpor Monazam, M. R., Cecchi, Blackwell Publishing Ltd 2015 Journal of Applied Crystallography Vol.48 No.1
Ge/SiGe Superlattices for Thermoelectric Devices Grown by Low-Energy Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition
Cecchi, S., Etzelstorfer, T., Müller, E., Samarell Springer Science + Business Media 2013 Journal of Electronic Materials Vol.42 No.7
Ge/SiGe superlattices for thermoelectric energy conversion devices
Cecchi, S., Etzelstorfer, T., Müller, E., Samarell Springer Science + Business Media 2013 Journal of Materials Science Vol.48 No.7
Structural investigation of GaInP nanowires using X-ray diffraction
Kriegner, D., Persson, J. M., Etzelstorfer, T., Ja Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2013 Thin Solid Films Vol.543 No.-
Unit cell structure of the wurtzite phase of GaP nanowires: X-ray diffraction studies and density functional theory calculations (7 pages)
Kriegner, D., Assali, S., Belabbes, A., Etzelstorf AMERICAN PHYSICAL SOCIETY 2013 Physical Review B Vol.88 No.11
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