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Radiation tests of the silicon drift detectors for LOFT [9144-238]
Del Monte, E., Azzarello, P., Bozzo, E., Bugiel, S International Society for Optical Engineering; 1999 2014 Proceedings of SPIE, the International Society for Vol.9144 No.3
TEM Analysis of Structure Modification Induced by Additional Carbon Incorporation in Silicon and Si~1~-~xGe~x Layers Grown with Molecular Beam Epitaxy
Bugiel, E.,Ruvimov, S.,Osten, H. J. Sci-tech Publications 1995 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.47-48 No.-
Novel Approach for Fabrication of Single-Crystalline Insulator/Si/Insulator Nanostructures
Bugiel, E., Fissel, A., Kuehne, D., Osten, H. J. Materials Research Society 2006 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.928 No.-
Relaxation Phenomena of Strained Si~1~-~xGe~x Layers on Planar and Differently Patterned Si Substrates
Bugiel, E.,Zaumseil, P.,Dietrich, B.,Osten, H. J. Sci-tech Publications 1993 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.32-33 No.-
Relaxation phenomena in strained Si~1~-~xGe~x layers on planar and patterned Si substrates
Bugiel, E. IOP PUBLISHING LTD 1993 CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS Vol.134 No.-
Novel Approach for Fabrication of Single-Crystalline Insulator/Si
Bugiel, E., Fissel, A., Kuehne, D., Osten, H. J. Warrendale, Pa.; Materials Research Society; 1999 2006 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.928 No.-
Independent Determination of Composition and Relaxation of Partly Pseudomorphically Grown Si-Ge Layers on Silicon by a Combination Microscopy Measurements
Bugiel, E.,Zaumseil, P. American Institute of Physics 1993 Applied Physics Letters Vol.62 No.17
TEM investigations of epitaxial high-kappa dielectrics on silicon
Bugiel, E., Osten, H. J., Fissel, A., Kirfel, O., Springer; 1999 2005 Springer Proceedings in Physics Vol.107 No.-
Bugiel, E., Osten, H. J., Fissel, A., Kirfel, O., New York; Springer 2006 Springer Proceedings in Physics Vol.107 No.-
Integration of Functional Epitaxial Oxides into Silicon: A TEM Investigation
Bugiel, E., Fissel, A., Czernohorsky, M., Laha, A. Cambridge University Press 2007 Microscopy and Microanalysis Vol.13//SUP3 No.-
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