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Fabrication of submicron-sized features in InP/InGaAsP
Dylewicz, R., De La Rue, R.M., Wasielewski, R., Ma American Vacuum Society; 1999 2010 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.28 No.4
Nanostructured graded-index antireflection layer formation on GaN for enhancing light extraction from light-emitting diodes
Dylewicz, R., Khokhar, A. Z., Wasielewski, R., Maz Springer Science + Business Media 2012 Applied Physics B: lasers and optics Vol.107 No.2
Value of exercise capacity and physical activity in the prevention of cardiovascular diseases—brief review of the current literature
Dylewicz, P., Borowicz-Bienkowska, S., Deskur-Smie SPRINGER 2005 Journal of Public Health Vol.13 No.6
Low-Dimensional Waveguide Grating Fabrication in GaN with Use of SiCl4/Cl2
Dylewicz, R., Patela, S., Hogg, R. A., Fry, P. W. Springer Science + Business Media 2009 Journal of Electronic Materials Vol.38 No.5
About holographic lithography for grating coupler fabrication in gallium nitride grown by MOVPE on sapphire substrate [5956-54]
Dylewicz, R., Patela, S. Z., Paszkiewicz, R., Tlac International Society for Optical Engineering; 1999 2005 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.5956 No.-
Inductively coupled plasma etching of GaN using SiCl4/Cl2
Dylewicz, R., Hogg, R. A., Fry, P. W., Parbrook, P John Wiley & Sons, Ltd 2007 Physica Status Solidi C Vol.4 No.7
Inductively coupled plasma etching of GaN using SiCl4/Cl2/Ar for submicron-sized features fabrication
Dylewicz, R., Hogg, R. A., Fry, P. W., Parbrook, P Wiley 2007 Physica Status Solidi C Vol.4 No.7
Charge dissipation layer based on conductive polymer for electron-beam patterning of bulk zinc oxide
Dylewicz, R., Lis, S., De La Rue, R.M., Rahman, F. IEE 2010 Electronics Letters Vol.46 No.14
Dylewicz, R., Lis, S., De La Rue, R.M., Rahman, F. IET 2010 Electronics Letters Vol.46 No.14
Polythiophene-based charge dissipation layer for electron beam lithography of zinc oxide and gallium nitride
Dylewicz, R., Lis, S., De La Rue, R.M., Rahman, F. American Vacuum Society; 1999 2010 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.28 No.4
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