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Tip-sample distance feedback control in a scanning evanescent microwave probe for nonlinear dielectric imaging
Duewer, F. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2000 Review of scientific instruments Vol.71 No.6
RFLP Band Size Standards: NIST Standard Reference Material® 2390
Duewer, D. L. ASTM AMERICAN SOCIETY FOR TESTING AND 2000 Journal of Forensic Sciences Vol.45 No.5
Interlaboratory Comparison of Autoradiographic DNA Profiling Measurements: Precision and Concordance
Duewer, D. L. ASTM AMERICAN SOCIETY FOR TESTING AND 1998 Journal of Forensic Sciences Vol.43 No.3
NIST Mixed Stain Studies #1 and #2: Interlaboratory Comparison of DNA Quantification Practice and Short Tandem Repeat Multiplex Performance with Multiple-Source Samples
Duewer, D. L. ASTM AMERICAN SOCIETY FOR TESTING AND 2001 Journal of Forensic Sciences Vol.46 No.5
Products of Partial Digestion with Hae III. Part 2. Quantification
Duewer, D. L. ASTM AMERICAN SOCIETY FOR TESTING AND 1997 Journal of Forensic Sciences Vol.42 No.5
NIST Mixed Stain Study 3: Signal Intensity Balance in Commercial Short Tandem Repeat Multiplexes
Duewer, D. L., Kline, M. C., Redman, J. W., Butler ACS AMERICAN CHEMICAL SOCIETY 2004 Analytical chemistry Vol.76 No.23
Evaluation of Performance Characteristics of Multistep Analytical Methods from Collaborative Study of Linked Samples
Duewer, D.L., Schantz, M.M., Parris, R.M., Ulberth ACS AMERICAN CHEMICAL SOCIETY 2008 Analytical chemistry Vol.80 No.19
Duewer, D. L Callaghan and Co 1997 Journal of Forensic Sciences Vol.42 No.5
Tip-Sample Distance Feedback Control in a Scanning Evanescent Microwave Microscope
Duewer, Fred,Gao, C.,Takeuchi, I. American Institute of Physics 1999 Applied Physics Letters Vol.74 No.18
Rare-earth glass reference materials for near-infrared spectrometry: sources of x-axis location variability
Duewer, D. L., Choquette, S. J., O'Neal, L., Filli Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Analytica Chimica Acta Vol.490 No.1-2
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