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Investigation on the surface topography in polishing using atomic force microscopy
De Chiffre, L Technische Rundschau 1996 CIRP Annals Vol.45 No.1
P4 - Comparison of Coordinate Measuring Machines using an Optomechanical Hole Plate
De Chiffre, L., Hansen, H. N., Morace, R. E. Technische Rundschau, Hallwag Publishers; 1999 2005 CIRP Annals Vol.54 No.1
Applicability of roughness profile analysis to evaluation of cutting fluid efficiency in reaming test
De Chiffre, L., Meneghello, R., Zamboni, G. Associazione Italiana di Tecnologia Meccanica 1995 ATTI DEL CONVEGNO- ASSOCIAZIONE ITALIANA DI TECNOL Vol.2 No.-
Surfaces in Precision Engineering, Microengineering and Nanotechnology
De Chiffre, L., Kunzmann, H., Peggs, G., Lucca, D. Uetendorf, Switzerland; Technische Rundschau 2003 ANNALS- CIRP Vol.52 No.1-2
Traceability of Dimensional Measurements using the Scanning Electron Microscope
De Chiffre, L., Bariani, P., Hansen, H.N., Horsewe Kempston; LG Digital 2004 PROCEEDINGS OF THE EUSPEN INTERNATIONAL CONFERENCE Vol.4 No.-
Surface Mapping with an AFM-CMM Integrated System and Stitching Software
De Chiffre, L., Marinello, F., Bariani, P., Hansen Kempston; LG Digital 2004 PROCEEDINGS OF THE EUSPEN INTERNATIONAL CONFERENCE Vol.4 No.-
S/4 Surface topography characterization using an atomic force microscope mounted on a coordinate measuring machine
De Chiffre, L., Hansen, H. N., Kofod, N. Technische Rundschau, Hallwag Publishers 1999 ANNALS- CIRP Vol.48 No.1
Investigation on capability of the reaming process using minimal quantity lubrication
De Chiffre, L., Tosello, G., Piska, M., Muller, P. ELSEVIER SCIENCE + BUSINESS MEDIA 2009 CIRP JOURNAL OF MANUFACTURING SCIENCE AND TECHNOLO Vol.2 No.1
Replica Calibration Artefacts for Optical 3D Scanning of Micro Parts
De Chiffre, L., Carmignato, S., Cantatore, A., Jen Bedford; Euspen 2009 PROCEEDINGS OF THE EUSPEN CONFERENCE Vol.9^T^H No.2
Multiple height calibration artefact for 3D microscopy
De Chiffre, L., Carli, L., Eriksen, R.S. Technische Rundschau, Hallwag Publishers; 1999 2011 CIRP Annals Vol.60 No.1
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