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House, J.,Dankovic&,ova, J.,Huckvale, M. University of California, Berkley 1999 PROCEEDINGS OF THE INTERNTIONAL CONGRESS OF PHONET Vol.14 No.3
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Dankovic, D., Vracar, L., Prijic, A., Prijic, Z. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2013 IEEE transactions on education Vol.56 No.4
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Dankovic, T., Feinerman, A. New York, N.Y.; ASME 2010 INTERNATIONAL MECHANICAL ENGINEERING CONGRESS Vol.10 No.-
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Dankovic, D., Manic, I., Davidovic, V., Djoric-Vel New York; Curran 2008 INTERNATIONAL SEMINAR ON POWER SEMICONDUCTORS Vol.9 No.-
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Dankovic, D. A.,Smith, R. J.,Stayner, L. T.,Bailer IARC 1993 IARC SCIENTIFIC PUBLICATIONS Vol.- No.127
Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETs
Dankovic, D., Manic, I., Davidovic, V., Djoric-Vel Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2008 Microelectronics and reliability Vol.48 No.8-9
Effects of Static and Pulsed Negative Bias Temperature Stressing on Lifetime in P-Channel Power VDMOSFETs
Dankovic, D., Manic, I., Prijic, A., Davidovic, V. MIDEM; 1999 2013 INFORMACIJE MIDEM -LJUBLJANA- Vol.43 No.1
2017 International Student's Projects Conference [Conference Reports]
Dankovic, D. Institute of Electrical and Electronics Engineers 2018 IEEE Solid State Circuits Magazine Vol.10 No.2
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