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Estimation of Tunneling-Barrier Width in Scanning Tunneling Microscope from Noise Characteristics
Bychikhin, S. A. PLENUM PUBLISHING CORPORATION 1999 MEASUREMENT TECHNIQUES C/C OF IZMERITEL'NAIA TEKHN Vol.42 No.12
Thermal and free carrier laser interferometric mapping and failure analysis of anti-serial smart power ESD protection structures
Bychikhin, S., Litzenberger, M., Pichler, R., Poga Pergamon; 1999 2001 Microelectronics and reliability Vol.41 No.9-10
Investigation of ESD Protection Elements Under High Current Stress in CDM-Like Time Domain Using Backside Laser Interferometery
Bychikhin, S., Dubec, V., Litzenberger, M., Pogany unknown 2002 ELECTRICAL OVERSTRESS ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMP Vol.- No.24
On the Some Difficulty of Quantum 1/f Noise Theory
Bychikhin, S., Gertsenstein, M., Potemkin, V. World Scientific 1995 NOISE IN PHYSICAL SYSTEMS AND ONE/F FLUCTUATIONS Vol.13 No.-
Thermal analysis of InGaN/GaN (GaN substrate) laser diodes using transient interferometric mapping
Bychikhin, S., Swietlik, T., Suski, T., Porowski, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2007 Microelectronics and reliability Vol.47 No.9-11
Accelerated Aging of GaN Light Emitting Diodes Studied by 1/f and RTS Noise
Bychikhin, S., Vandamme, L. K. J., Kuzmik, J., Men IOP INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING LTD 2005 AIP Conference Proceedings Series Vol.780 No.-
Low-frequency noise sources in as-prepared and aged GaN-based light-emitting diodes (7 pages)
Bychikhin, S., Pogany, D., Vandamme, L. K. J., Men AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2005 Journal of Applied Physics Vol.97 No.12
Investigation of smart power DMOS devices under repetitive stress conditions using transient thermal mapping and numerical simulation
Bychikhin, S., Haberfehlner, G., Rhayem, J., Vande Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 Microelectronics and reliability Vol.50 No.9-11
Components of the Tunneling Current l/F Noise in STM
Bychikhin, S. A., Potemkin, V. V., Stepanov, A. V. Bentham 1999 INTERNATIONAL CONFERENCE ON NOISE IN PHYSICAL SYST Vol.15 No.-
Current Gain Collapse in HBTs Analysed by Transient Interferometric Mapping Method
Bychikhin, S., Dubec, V., Kuzmik, J., Wurfl, J., K London; Horizon House 2007 EUROPEAN MICROWAVE CONFERENCE -CD-ROM EDITION- Vol.37 No.-
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