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Beroulle, V., Bertrand, Y., Latorre, L., Nouet, P. Kluwer; 1999 2001 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING Vol.17 No.5
Laser-Induced Fault Effects in Security-Dedicated Circuits
Beroulle, Vincent, Candelier, Philippe, De Castr Springer. 2014 International Federation for Information Processin Vol.2015 No.464
Monolithic piezoresistive CMOS magnetic field sensors
Beroulle, Vincent,Bertrand, Yves,Latorre, LaurentN Elsevier 2003 Sensors and actuators. A Physical Vol.103 No.1
On the Use of an Oscillation-Based Test Methodology for CMOS Micro-Electro-Mechanical Systems
Beroulle, V., Bertrand, Y., Latorre, L., Nouet, P. New York; ACM 2007 DATE -PROCEEDINGS- CD-ROM EDITION Vol.- No.-
Micromachined CMOS Magnetic Field Sensors with Low-Noise Signal Conditioning
Beroulle, V.,Bertrand, Y.,Latorre, L.,Nouet, P. IEEE 2002 Proceedings, IEEE micro electro mechanical systems Vol.15 No.-
Evaluation of the Oscillation-Based Test Methodology for Micro-Electro-Mechanical Systems
Beroulle, V.,Bertrand, Y.,Latorre, L.,Nouet, P. IEEE Computer Society Press 2002 IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM Vol.20 No.-
An Optimized NS2 Module for UHF Passive RFID Systems
Benfraj, Rahma, Beroulle, Vincent, Fourty, Nicolas Springer Nature 2018 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING Vol.35 No.1
Reliability analysis of CMOS MEMS structures obtained by front side bulk micromachining
Dardalhon, M.,Beroulle, V.,Latorre, L.,Nouet, P.,P Pergamon 2002 Microelectronics and reliability Vol.42 No.9-11
FAULT INJECTION ON HIDDEN REGISTERS IN A RISC-V ROCKET PROCESSOR AND SOFTWARE COUNTERMEASURES
Laurent, Johan, Beroulle, Vincent, Deleuze, Christ IEEE Computer Society 2019 DATE Vol.2019 No.1
Security Enhancements of a Mutual Authentication Protocol Used in a HF Full-Fledged RFID Tag
Naija, Yassine, Beroulle, Vincent, Machhout, Mohse Springer Nature 2018 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING Vol.34 No.3
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